[发明专利]在沟槽中具有控制端场板结构的晶体管装置在审

专利信息
申请号: 201910911603.X 申请日: 2019-09-25
公开(公告)号: CN110943123A 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: B·格罗特;L·拉蒂克;S·R·梅霍特拉;T·T-M·托马斯;M·E·吉普森 申请(专利权)人: 恩智浦美国有限公司
主分类号: H01L29/40 分类号: H01L29/40;H01L29/10;H01L29/78
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张小稳
地址: 美国得*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 沟槽 具有 控制 板结 晶体管 装置
【权利要求书】:

1.一种晶体管装置,其特征在于,包括:

衬底,所述衬底具有在所述衬底的半导体材料中延伸到第一深度的沟槽,所述沟槽具有由半导体材料构成的第一竖直分量侧壁和与所述第一竖直分量侧壁相对的由半导体材料构成的第二竖直分量侧壁;

导电结构,所述导电结构以相比所述第二竖直分量侧壁更靠近所述第一竖直分量侧壁的方式至少部分地位于所述沟槽中,所述导电结构通过电介质与所述第一竖直分量侧壁的第一部分横向分离第一横向距离并且通过电介质与所述第一竖直分量侧壁的第二部分横向分离第二横向距离,其中所述第一横向距离小于所述第二横向距离,其中所述导电结构充当晶体管的控制端和所述晶体管的场板;

其中所述第一竖直分量侧壁的所述第一部分包括所述晶体管的沟道区,并且所述第一竖直分量侧壁的所述第二部分不包括所述晶体管的沟道区。

2.根据权利要求1所述的晶体管装置,其特征在于,将所述第一部分与所述导电结构分离的所述电介质包括具有第一厚度的介电层,其中将所述第二部分与所述导电结构分离的所述电介质包括具有第二厚度的第二介电层,其中所述第一厚度小于所述第二厚度。

3.根据权利要求1所述的晶体管装置,其特征在于,所述晶体管包括漏极区,所述漏极区以与所述第二竖直分量侧壁横向相邻的方式位于所述半导体材料中。

4.根据权利要求3所述的晶体管装置,其特征在于,所述漏极区位于所述半导体材料的顶表面处。

5.根据权利要求3所述的晶体管装置,其特征在于,进一步包括所述晶体管的延伸漏极区,所述延伸漏极区包括位于所述沟槽正下方的部分。

6.根据权利要求1所述的晶体管装置,其特征在于:

所述导电结构通过电介质与所述第二竖直分量侧壁的第一部分横向分离第三横向距离并且通过电介质与所述第二竖直分量侧壁的第二部分横向分离第四横向距离,其中所述第三横向距离大于所述第一横向距离并且所述第四横向距离大于所述第二横向距离;

所述第二竖直分量侧壁的所述第一部分处于所述沟槽的与所述第一竖直分量侧壁的所述第一部分相对的一侧上;

所述第二竖直分量侧壁的所述第二部分处于所述沟槽的与所述第一竖直分量侧壁的所述第二部分相对的一侧上。

7.根据权利要求1所述的晶体管装置,其特征在于,进一步包括所述晶体管的漏极区,所述漏极区位于所述沟槽正下方。

8.根据权利要求1所述的晶体管装置,其特征在于,进一步包括:

第二导电结构,所述第二导电结构以相比所述第一竖直分量侧壁更靠近所述第二竖直分量侧壁的方式至少部分地位于所述沟槽中,所述第二导电结构通过电介质与所述第二竖直分量侧壁的第一部分横向分离第三横向距离并且通过电介质与所述第二竖直分量侧壁的第二部分横向分离第四横向距离,其中所述第三横向距离小于所述第四横向距离,其中所述导电结构充当第二晶体管的控制端和所述第二晶体管的场板,其中所述第二导电结构在所述沟槽中通过电介质与所述第一导电结构横向分离;

其中所述第二竖直分量侧壁的所述第一部分包括所述第二晶体管的第二沟道区,并且所述第二竖直分量侧壁的所述第二部分不包括所述第二晶体管的沟道区,所述第二沟道区处于所述沟槽的与所述晶体管的所述沟道区相对的一侧上。

9.根据权利要求8所述的晶体管装置,其特征在于,进一步包括所述晶体管和所述第二晶体管的共用漏极区,所述共用漏极区包括位于所述沟槽正下方的部分。

10.一种用于制造晶体管装置的方法,其特征在于,包括:

在衬底的半导体材料中形成第一沟槽;

在所述第一沟槽的侧壁上形成至少一个侧壁间隔物;

通过蚀刻穿过由来自所述第一沟槽的所述至少一个侧壁间隔物限定的开口,在所述半导体材料中形成第二沟槽;

沿所述第二沟槽的侧壁形成介电材料层;

在所述第一沟槽和所述第二沟槽中形成第一导电结构,所述第一导电结构通过电介质与所述第一沟槽的第一竖直分量侧壁横向分离第一距离并且通过包括所述介电材料层的电介质与所述第二沟槽的第一竖直分量侧壁横向分离第二距离,所述第二距离大于所述第一距离,所述第一沟槽的所述第一竖直分量侧壁和所述第二沟槽的所述第一竖直分量侧壁处于所述第一沟槽和所述第二沟槽中的每一个沟槽的同一侧上;

在所述第一沟槽和所述第二沟槽中形成第二导电结构,所述第二导电结构通过电介质与所述第一沟槽的第二竖直分量侧壁横向分离第三距离并且通过包括所述介电材料层的电介质与所述第二沟槽的第二竖直分量侧壁横向分离第四距离,所述第四距离大于所述第三距离,其中所述第一导电结构和所述第二导电结构通过电介质在所述第一沟槽和所述第二沟槽中彼此横向分离,其中所述第一沟槽的所述第一竖直分量侧壁是与所述第一沟槽的所述第二竖直分量侧壁相对的侧壁,其中所述第二沟槽的所述第一竖直分量侧壁是与所述第二沟槽的所述第二竖直分量侧壁相对的侧壁;

至少沿晶体管的所述第一沟槽的所述第一竖直分量侧壁的一部分形成晶体管的沟道区,其中所述沟道区不位于沿所述第二沟槽的与所述第一导电结构横向相邻的所述第一竖直分量侧壁;

其中所述第一导电结构充当所述晶体管的控制端和所述晶体管的场板。

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