[发明专利]一种弯管互联金属填充方法在审
| 申请号: | 201910905540.7 | 申请日: | 2019-09-24 |
| 公开(公告)号: | CN110648962A | 公开(公告)日: | 2020-01-03 |
| 发明(设计)人: | 郁发新;冯光建;王永河;马飞;程明芳 | 申请(专利权)人: | 浙江集迈科微电子有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/48 |
| 代理公司: | 33283 杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人: | 董世博 |
| 地址: | 313100 浙江省湖州市长兴县经济技术开发*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 互联金属 弯管 填充 热膨胀效应 金属注入 填充处理 适配 金属 制作 | ||
1.一种弯管互联金属填充方法,其特征在于:具体包括如下步骤:
101)TSV孔制作步骤:通过光刻,刻蚀工艺在载板上表面制作TSV孔,TSV孔底部增加侧向刻蚀,使TSV孔底部形成膨胀部分空间,膨胀部分空间整体呈球形;在载板上表面沉积氧化硅或者氮化硅,或者直接热氧化,形成绝缘层;
102)金属注入步骤:把步骤101)处理的载板放在腔体内加热,并抽气体使TSV孔达到真空状态;其中,腔体加热温度控制在50度到1000度之间;
将低温熔融金属置于载板上表面,通过压板施加压力,使低温熔融金属进入TSV孔中;冷却腔体,使熔融金属冷却,撤走压板;
103)填充处理步骤:在步骤102)处理的载板上表面通过CMP工艺去除表面多余金属,完成弯管互联金属的填充。
2.根据权利要求1所述的一种弯管互联金属填充方法,其特征在于:TSV孔直径范围在1um到1000um,深度在10um到1000um之间;绝缘层厚度范围在10nm到100um之间。
3.根据权利要求1所述的一种弯管互联金属填充方法,其特征在于:低温熔融金属采用熔点温度控制在100度到800度之间的金属。
4.根据权利要求3所述的一种弯管互联金属填充方法,其特征在于:低温熔融金属采用镓或者镓类合金。
5.根据权利要求1所述的一种弯管互联金属填充方法,其特征在于:步骤101)处理后的载板上表面,通过物理溅射,磁控溅射或者蒸镀工艺在绝缘层上方制作种子层,种子层厚度范围在1nm到100um,其结构是一层或多层结构,材质采用钛、铜、铝、银、钯、金、铊、锡、镍中的一种或多种混合;
通过光刻电镀工艺在种子层上制作焊盘,焊盘金属厚度范围在1nm到100um,其结构是一层或多层结构,材质采用钛、铜、铝、银、钯、金、铊、锡、镍中的一种或多种混合。
6.根据权利要求5所述的一种弯管互联金属填充方法,其特征在于:还包括辅助板,在辅助板上表面沉积氧化硅或者氮化硅,或者直接热氧化形成绝缘层;通过物理溅射,磁控溅射或者蒸镀工艺在绝缘层上方制作种子层,在种子层上面做金属互联线形成金属焊盘;通过光刻和电镀工艺,在辅助板上表面制作金属凸柱,且金属凸柱的顶部扩大形成栓塞状;
通过键合工艺把辅助板和载板键合,并减薄载板另一面,使TSV孔底部露出。
7.根据权利要求1所述的一种弯管互联金属填充方法,其特征在于:步骤101)处理后的载板下表面,沉积氧化硅或者氮化硅,或者直接热氧化,形成绝缘层;通过物理溅射,磁控溅射或者蒸镀工艺在绝缘层上方制作种子层;通过光刻电镀工艺在种子层上制作焊盘;
还包括辅助板,在辅助板上表面沉积氧化硅或者氮化硅,或者直接热氧化形成绝缘层;通过物理溅射,磁控溅射或者蒸镀工艺在绝缘层上方制作种子层,在种子层上面做金属互联线形成金属焊盘;通过键合工艺把辅助板和载板键合,并减薄载板另一面;其中,TSV孔的底部到键合面距离在1um到500um之间。
8.根据权利要求7所述的一种弯管互联金属填充方法,其特征在于:扩大TSV孔的底部进行干法刻蚀,使异向刻蚀变为同向刻蚀,将TSV孔底部形成膨胀空腔。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





