[发明专利]存储器系统和测试系统有效
| 申请号： | 201910903792.6 | 申请日： | 2019-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN111180001B | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 朴振 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/18 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 张澜;李青 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储器 系统 测试 | ||
1.一种存储器系统，包括：
存储器装置，包括测试区域；以及
处理器，将从主机装置传送的模式数据写入到所述测试区域中包括的模式数据区域，从所述测试区域读取测试数据，并且将读取的所述测试数据传送到所述主机装置，
其中所述模式数据区域的位置在所述测试区域中是可调整的。
2.根据权利要求1所述的存储器系统，其中所述处理器将从所述主机装置传送的标签数据写入到所述测试区域中包括的标签数据区域，基于所述标签数据来确定偏移值，并且基于所述偏移值来确定所述模式数据区域的位置。
3.根据权利要求2所述的存储器系统，其中所述标签数据包括对应于所述模式数据的逻辑地址。
4.根据权利要求2所述的存储器系统，其中所述标签数据区域位于所述测试区域的开始位置处。
5.根据权利要求4所述的存储器系统，其中所述标签数据区域位于所述测试区域的结束位置处。
6.根据权利要求2所述的存储器系统，其中所述处理器基于所述标签数据和预定密钥来确定所述偏移值。
7.根据权利要求2所述的存储器系统，其中所述处理器基于所述标签数据区域和所述模式数据区域来确定所述测试区域中调试数据区域的位置，并且将执行内部操作的结果作为调试数据写入到所述调试数据区域。
8.根据权利要求7所述的存储器系统，
其中所述模式数据区域从通过将所述偏移值添加到所述测试区域的开始位置而获得的位置开始，并且
其中所述处理器确定所述测试区域中除所述标签数据区域和所述模式数据区域之外的区域作为所述调试数据区域。
9.根据权利要求1所述的存储器系统，其中所述处理器将从所述主机装置传送的标签数据写入到所述测试区域中包括的标签数据区域，基于所述标签数据来确定偏移值，基于所述偏移值来确定所述测试区域中调试数据区域的位置，并且将执行内部操作的结果作为调试数据写入到所述调试数据区域。
10.根据权利要求9所述的存储器系统，
其中所述调试数据区域从通过将所述偏移值添加到所述测试区域的开始位置而获得的位置开始，并且
其中所述处理器确定所述测试区域中除所述标签数据区域和所述调试数据区域之外的区域作为所述模式数据区域。
11.一种测试系统，包括：
存储器系统，包括处理器和存储器装置；以及
主机装置，将模式数据传送到所述存储器系统，从所述存储器系统接收测试数据，并且执行测试操作，
其中所述处理器将所述模式数据写入到所述存储器装置的测试区域中包括的模式数据区域，从所述测试区域读取所述测试数据，并且将读取的所述测试数据传送到所述主机装置，并且
其中所述模式数据区域的位置在所述测试区域中是可调整的。
12.根据权利要求11所述的测试系统，
其中所述主机装置进一步将标签数据传送到所述存储器系统，并且
其中所述处理器将所述标签数据写入到所述测试区域中包括的标签数据区域，基于所述标签数据来确定偏移值，并且基于所述偏移值来确定所述模式数据区域的位置。
13.根据权利要求12所述的测试系统，其中所述标签数据包括对应于所述模式数据的逻辑地址。
14.根据权利要求12所述的测试系统，其中所述标签数据区域位于所述测试区域的开始位置处。
15.根据权利要求14所述的测试系统，其中所述标签数据区域位于所述测试区域的结束位置处。
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