[发明专利]片式结构产品AOI检测设备有效
申请号: | 201910899804.2 | 申请日: | 2019-09-23 |
公开(公告)号: | CN110595368B | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 汪炉生;钱曙光;柳洪哲;罗时帅;柳云鸿 | 申请(专利权)人: | 荣旗工业科技(苏州)股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01B11/24;G01B11/02;G01B21/08 |
代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 俞光明 |
地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 结构 产品 aoi 检测 设备 | ||
本发明公开了一种片式结构产品AOI检测设备,应用在自动化检测设备技术领域,解决了现有检测效率低、精度低的技术问题,其技术方案要点是一种片式结构产品AOI检测设备,包括机架,所述机架上设置有转料盘,机架底侧设有用于驱动转料盘转动的转料驱动装置,所述转料盘上设有用于放待检测产品的治具,所述机架沿转料盘的外周向依次设有:进料工位,供待检测产品放置于治具上;平面检测工位,包括处于转料盘下方的底侧光源、与机架连接的检测架、处于转料盘上方且连接于检测架上的摄像终端、连接于检测架上的压平组件;厚度检测工位,包括基准面测量组件、相对面测量组件;出料工位,供待检测产品从治具上取出;具有的技术效果是检测精度、效率高。
技术领域
本发明涉及的自动化检测设备技术领域,尤其是涉及一种片式结构产品AOI检测设备。
背景技术
如图1,无线充电设备中,内部的线路结构中包含有电磁线圈,电磁线圈包含导电石墨片、上膜和下膜,其中上膜、下膜、导电石墨片目前均采用千分尺测量,采用千分尺测量,实际测量精度不高,测量效率较低。
发明内容
本发明的目的是提供一种片式结构产品AOI检测设备,其优点是检测精度较高、检测效率较高。
本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种片式结构产品AOI检测设备,包括机架,所述机架上设置有转料盘,机架底侧设有用于驱动转料盘转动的转料驱动装置,所述转料盘上设有用于放待检测产品的治具,所述机架沿转料盘的外周向依次设有:
进料工位,供待检测产品放置于治具上;
平面检测工位,包括处于转料盘下方的底侧光源、与机架连接的检测架、处于转料盘上方且连接于检测架上的摄像终端、连接于检测架上的压平组件;
厚度检测工位,包括基准面测量组件、相对面测量组件;
出料工位,供待检测产品从治具上取出。
通过上述技术方案,机架上设置有转料盘,转料盘上设置治具,待检测产品可放置入治具内,随着转料盘的转动,治具移动至不同工位进行检测;具体的转料盘的外周向依次有进料工位、平面检测工位、厚度检测工位、出料工位,进料工位可供操作人员将待检测产品放置于治具上,平面检测工位上,底侧光源照亮待检测件,使得待检测产品整体透亮,待检测产品的边缘以及内孔均可展示清楚,摄像终端的成像更加清晰准确;同时,测试时,实际需要将待检测产品压平,防止产品翘起或卷曲而影响检测精度,该检测过程为2D检测;另外,厚度检测工位,进行3D检测,即对待检测产品的厚度进行检测,检测时,首先通过基准面测量组件建立基准面,其次,再通过相对面测量组件,测量出上膜、下膜以及电磁线圈的厚度。
本发明进一步设置为:所述治具上平置有玻璃面板,玻璃面板上设有用于供待检测产品定位的定位块,所述治具上设有若干个透光槽。
通过上述技术方案,玻璃面板采用光学玻璃,其表面粗糙度低于5μm,可使得待检测产品放置平稳,水平度较高;同时,玻璃面板可供待检测产品透光,底侧光源透光后使得产品整体透亮,产品检测效果更好。
本发明进一步设置为:所述压平组件包括压平气缸、由压平气缸带动升降的压板,压板上设有至少一个长度基准槽、至少一个长度检测槽、至少一个宽度基准槽、至少一个宽度检测槽、至少一个结构检测槽。
通过上述技术方案,具体的压平组件包括压平气缸,压平气缸可带动压板升降,压板升降后即可压平待检测产品,压平时,仍需要保留一部分边缘的结构在可视范围内;其中长度基准槽用于确定一个长度基准边,其它长度检测槽以该长度基准边为基准,从而确定了各个位置的长度,同理,宽度基准槽确定了一个宽度基准,其它宽度检测槽以该宽度基准为参考,从而确定了各个位置的宽度;结构检测槽则直接供摄像终端对于一些孔径等较小的进行拍摄。
本发明进一步设置为:所述检测架靠近转料盘的上侧设有上侧光源。
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