[发明专利]一种电子连接器的推退卡测试机构及测试方法

说明书

本发明公开一种电子连接器的推退卡测试机构及测试方法,该测试机构包括支撑座、测试载座、连接器载具、测试单元、驱动装置和推卡驱动装置,所述测试载座通过轴承座活动安装于支撑座上,所述测试载座制有测试台面,所述连接器载具固设在测试台面上,测试单元活动安设在测试台面上并能由所述驱动装置传动沿测试载座轴向方向移动,所述推卡驱动装置设在测试载座轴向方向的一侧并能传动所述测试单元的测试卡插入位于连接器载具上的电子连接器内；所述测试卡由推卡驱动装置和/或电子连接器内的弹簧驱动而插入或退出电子连接器，配合设在连接器载具上的检测装置以及设在测试单元上的锁卡检测装置和退卡检测装置,匹配完成对电子连接器的推退卡检测。

技术领域

本发明涉及组装设备技术领域,尤其是一种电子连接器的推退卡测试机构及测试方法。

背景技术

目前,在电子设备领域,电子连接器为手机或移动终端与手机卡连接的设备,在移动通讯领域应用较多。现有中的电子连接器有TF卡连接器、SD卡连接器和SIM卡连接器。

现有在完成对电子连接器的加工生产后,需要对电子连接器是否具有锁卡和退卡功能进行检测,而现有中的锁卡和退卡检测采用的的手工方法进行检测,采用人工进行检测,需要的劳动力大,且检测效率低,误判率高。同时,现有的组装电子连接器的设备均未设有自动完成推退卡检测的机构,设有相应检测机构的设备也只能进行水平的推退卡检测,如此,容易造成当电子连接器立式放置时,不能完全锁卡或退卡。

因此,本习作之创造者结合自身加工生产需求设计一种检测效率高、测试精准的电子连接器推退卡测试机构及测试方法。

发明内容

本发明解决的技术问题是针对上述现有技术中的问题,提供一种电子连接器的推退卡测试机构,该电子连接器推退卡测试机构填补了现有相关技术中无此类机构的空白。

根据本发明的第一方面,本发明采取的一种技术方案如下:一种电子连接器推退卡测试机构,包括支撑座、测试载座、连接器载具、测试单元、驱动装置和推卡驱动装置,所述测试载座通过轴承座活动安装于支撑座上,所述测试载座制有测试台面,所述连接器载具固设在测试台面上,测试单元活动安设在测试台面上并能由所述驱动装置传动沿测试载座轴向方向移动,所述推卡驱动装置设在测试载座轴向方向的一侧并能传动所述测试单元的测试卡插入位于连接器载具上的电子连接器内；所述测试卡由推卡驱动装置和/或电子连接器内的弹簧驱动而插入或退出电子连接器,配合设在连接器载具上的检测装置以及设在测试单元上的锁卡检测装置和退卡检测装置,匹配完成对电子连接器的推退卡检测。

作为对上述技术方案的进一步阐述：

在上述技术方案中,所述测试卡一体成型有卡片部、退卡检测台阶和锁卡检测台阶,所述退卡检测台阶在位置上位于所述卡片部和锁卡检测台阶之间；所述推卡驱动装置传动所述测试卡朝向位于连接器载具上的电子连接器移动,配合检测装置检测插入电子连接器内的卡片部、锁卡检测装置检测锁卡检测台阶和退卡检测装置检测退卡检测台阶而完成测试启停检测和电子连接器的推退卡检测。

在上述技术方案中,所述检测装置为对射光纤,且所述对射光纤分布在所述连接器载具的宽度方向两侧,所述测试卡朝向连接器载具移动并通过其卡片部对所述对射光纤进行阻挡而完成测试启停检测。

在上述技术方案中,所述驱动装置包括固设在测试载座底端的驱动气缸,所述测试载座上还制有导槽，所述驱动气缸通过活动穿设在所述导槽内的连接座与所述测试单元连接；所述驱动气缸通过连接座传动所述测试单元沿测试载座轴向方向移动,匹配将测试单元移动到测试起始位置或远离测试起始位置。

在上述技术方案中,所述测试单元还包括测试卡载具，所述测试卡载具上制有延其长度方向延伸的滑槽,所述滑槽配合盖覆在测试卡载具上的盖板构成供测试卡朝向/远离连接器载具行走的滑道,所述盖板靠近连接器载具的一端还固设安装座,所述安装座上设有滚动轴承,所述滚动轴承用于与沿滑道行走的测试卡滚动接触而对测试卡进行垂直定位。