[发明专利]一种温控测量一体化校验仪的自适应Pt100传感器接口电路

说明书

本发明公开了一种温控测量一体化校验仪的自适应Pt100传感器接口电路，属于电子硬件设备的电路结构的技术领域。本发明的温控测量一体化校验仪的自适应Pt100传感器接口电路，包括接口切换阵列模块、切换阵列驱动模块、Pt100测量模块和Pt100测量结果处理模块。接口切换阵列模块用于组成不同的线序来传递Pt100传感器引脚的电平；切换阵列驱动模块用于控制接口切换阵列模块的工作电压，Pt100测量模块识别电平并记录数据，Pt100测量结果处理模块对电平数据进行逻辑运算以判断正确的引脚名称。使用本温控测量一体化校验仪的自适应Pt100传感器接口电路，相比现有校验仪的识别的方式，无需人工干预，过程简单。

技术领域

本发明涉及电子设备硬件的技术领域，尤其是一种校验铂热电阻式温度传感器的接口电路结构。

背景技术

Pt100温度传感器，既铂热电阻温度传感器，是一种将温度变量转换为可传送的标准化输出信号的仪表，主要用于工业过程温度参数的测量和控制。温控测量一体化校验仪就是在生产一线中，被应用来对Pt100温度传感器进行检测的一种设备。现有的对温控测量一体化校验仪在使用时，通常采用人工操作仪器的方法。由操作人员对仪器这些档位设置，再记录下相应的参数，多次重复试验后再去统计数据，进而得出结论。

但是，现有的温控测量一体化校验仪在使用前，需要先明确Pt100温度传感器的相应引脚，再确定连接关系后进行测量。然后在生产制造一线应用Pt100温度传感器的场景中，经常出现老旧Pt100温度传感器由于污染或者外观磨损导致引脚标记不清的情况，为校验Pt100温度传感器带来难度。采用人工操作校验仪的方式，也容易带来认为错误影响校验结果，而纠正校验结果的过程又进一步加大了人力成本。

发明内容

为了解决上述背景技术中所存在的一个或者多个问题，本发明提出一种温控测量一体化校验仪的自适应Pt100传感器接口电路的技术方案，能够自动检测适应老旧Pt100温度传感器的引脚次序。

本发明的技术方案如下：

一种温控测量一体化校验仪的自适应Pt100传感器接口电路，包括接口切换阵列模块、切换阵列驱动模块、Pt100测量模块；接口切换阵列模块的前端电连接外部Pt100传感器，中端电连接切换阵列驱动模块，后端电连接Pt100测量模块。

进一步地，自适应Pt100传感器接口电路还包括Pt100测量结果处理模块；所述Pt100测量结果处理模块电连接Pt100测量模块。

进一步地，接口切换阵列模块的前端和后端均分别设有三个单刀双掷继电器；前端的三个单刀双掷继电器中，每个单刀双掷继电器的公共触点均设为一个接口电连接外部Pt100传感器的引脚，每个单刀双掷继电器的常闭触点均连接在一起设为一个接口电连接Pt100测量模块，每个单刀双掷继电器的常开触点均分别对应电连接后端三个单刀双掷继电器的公共触点；后端的每个单刀双掷继电器的常闭触点均连接在一起设为一个接口电连接Pt100测量模块，每个单刀双掷继电器的常开触点均连接在一起设为一个接口电连接Pt100测量模块。

进一步地，切换阵列驱动模块为至少六个NPN型三极管；所述NPN型三极管的射极接地，基极接Pt100测量模块输出的参考电压，集电极接每个单刀双掷继电器的线圈的负极；每个单刀双掷继电器的线圈的正极均分别连接外部电源。

进一步地，Pt100测量模块由测量芯片及其外围电路组成；测量芯片与接口切换阵列模块对应的三个接口，均以串行接口的方式进行通信。

进一步地，Pt100测量模块的测量芯片型号为MAX31865。

进一步地，Pt100测量结果处理模块为微处理芯片，用于对Pt100测量模块发送的数据进行逻辑运算。

与现有技术相比，本发明技术方案的有益效果是：