[发明专利]半导体装置在审
| 申请号: | 201910895176.0 | 申请日: | 2019-09-20 |
| 公开(公告)号: | CN110957350A | 公开(公告)日: | 2020-04-03 |
| 发明(设计)人: | 杨凯杰;庄礼阳;王培宇;李韦儒;蔡庆威;程冠伦 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L27/088 |
| 代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 李晔;李琛 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
1.一种半导体装置,其特征在于,包括:
一p型场效应晶体管,其包括:
一第一栅极结构,形成于一基板上;
一第一源极/漏极结构,与该第一栅极结构相邻;
一第一间隔物,位于该第一栅极结构的侧壁上并接触该第一源极/漏极结构;以及
一第二间隔物,位于该第一间隔物上并接触该第一源极/漏极结构与该第一栅极结构的侧壁上的该第一间隔物的一第一部分;以及
一n型场效应晶体管,其包括:
一第二栅极结构,形成于该基板上;
一第二源极/漏极结构,与该第二栅极结构相邻;
该第一间隔物,位于该第二栅极结构的侧壁上并接触该第二源极/漏极结构;以及
一第三间隔物,位于该第二源极/漏极结构的侧壁上,并接触该第二源极/漏极结构与该第二栅极结构的侧壁上的该第一间隔物的一第二部分,
其中该第一间隔物与该第二间隔物不同,且该第二间隔物与该第三间隔物不同,
其中该第二源极/漏极结构为条状。
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