[发明专利]一种银粉分散体系保质期的检验方法及系统

说明书

本发明公开了一种银粉分散体系保质期的检验方法及系统。所述方法包括：对溶剂进行样品提取，获取第一样品；将银粉放入所述溶剂中，对分散有银粉的溶剂进行样品提取，获取第二样品；将第一样品和第二样品放入低场核磁检验仪器，获得第一样品的第一弛豫时间和第二样品的第二弛豫时间；根据第一弛豫时间和第二弛豫时间确定银粉在溶剂中分散的弛豫率；根据弛豫率和银粉的比表面积确定银粉与溶剂的亲和性；根据亲和性确定银粉分散溶剂的保质期。本发明根据亲和性确定银粉分散溶剂的保质期，能够动态在线对银粉分散体系的保质期进行检测，提高了银粉分散体系的检测速度。

技术领域

本发明涉及检验检测技术领域，特别是涉及一种银粉分散体系保质期的检验方法及系统。

背景技术

超细银粉是电气和电子工业的重要材料，是电子工业中应用相当广泛的一种贵金属粉末。因其在不同体系中的稳定保质期差异比较大，一直是产品质量控制的难点。通常工艺中银粉具有较好的表面活性，通常采用表面修饰的方法使其对不同溶剂均具有良好的亲和性，比如亲水性修饰使其适用于水溶剂体系，亲油性修饰使其适用于有机溶剂分散体系。亲和性直接决定了银粉在体系中的稳定性。目前的检测方法都是结果检测，只能在表面修饰处理完成之后进行取样分析，多数采用加速离心的方法估计其保质期，远远无法满足工业化生产所要求的动态监测和研究。

发明内容

本发明的目的是提供一种银粉分散体系保质期的检验方法及系统，利用银粉在不同溶剂中弛豫时间和湿式比表面积的不同，换算出银粉与溶剂的亲和性，进而迅速得到保质期数值，提高了检测速度。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种银粉分散体系保质期的检验方法，该方法包括：

对溶剂进行样品提取，获取第一样品；

将银粉放入所述溶剂中，对分散有所述银粉的溶剂进行样品提取，获取第二样品；

将所述第一样品和所述第二样品放入低场核磁检验仪器，获得所述第一样品的第一弛豫时间和所述第二样品的第二弛豫时间；

根据所述第一弛豫时间和所述第二弛豫时间确定所述银粉在所述溶剂中分散的弛豫率；

根据所述弛豫率和所述银粉的比表面积确定所述银粉与所述溶剂的亲和性；

根据所述亲和性确定银粉分散溶剂的保质期。

可选的，所述弛豫率表示为T_l为所述第一弛豫时间，T_s为所述第二弛豫时间。

可选的，所述亲和性表示为A＝R_sp/S_A，S_A为银粉的比表面积。

可选的，所述低场核磁检验仪器内置永久磁铁为钕铁硼磁铁或钐钴永磁铁。

可选的，所述第一样品和所述第二样品的样品量均为1-2ml。

本发明还提供了一种银粉分散体系保质期的检验系统，该系统包括：

第一样品提取模块，用于对溶剂进行样品提取，获取第一样品；

第二样品提取模块，用于将银粉放入所述溶剂中，对分散有所述银粉的溶剂进行样品提取，获取第二样品；

弛豫时间获取模块，用于将所述第一样品和所述第二样品放入低场核磁检验仪器，获得所述第一样品的第一弛豫时间和所述第二样品的第二弛豫时间；

弛豫率确定模块，用于根据所述第一弛豫时间和所述第二弛豫时间确定所述银粉在所述溶剂中分散的弛豫率；

亲和性确定模块，用于根据所述弛豫率和所述银粉的比表面积确定所述银粉与所述溶剂的亲和性；