[发明专利]探头、探测器及多像素光子计数器总计数修正方法在审
申请号: | 201910882464.2 | 申请日: | 2019-09-18 |
公开(公告)号: | CN110632639A | 公开(公告)日: | 2019-12-31 |
发明(设计)人: | 李高峰;王雪梅;李剑波;王相成;张国建;何玉林;王城;周伟娜;王春梅;白侠 | 申请(专利权)人: | 北京格物时代科技发展有限公司 |
主分类号: | G01T1/164 | 分类号: | G01T1/164;A61B6/03 |
代理公司: | 11266 北京工信联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 芦玲玲 |
地址: | 102699 北京市大兴区黄村*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多像素光子计数器 电子学电路 可见光光子 电流脉冲 晶体组件 探头 伽马射线 能量分辨率 电性连接 电压脉冲 高分辨率 探测机制 探测系统 信号转换 阵列结构 受光面 转换 探测器 变差 图像 修正 | ||
1.一种探头,其特征在于,包括:
平板晶体组件,用于将进入其的伽马射线转换成若干可见光光子;
多像素光子计数器阵列,其受光面设于所述平板晶体组件上,该多像素光子计数器阵列包括多个多像素光子计数器,多个多像素光子计数器形成阵列结构,各个所述多像素光子计数器用于将各自接收到的光子信号转换成电流脉冲,从而对各自接收到的可见光光子的数目进行计数;
电子学电路部分,所述多像素光子计数器阵列中的各个多像素光子计数器分别与该电子学电路部分电性连接,该电子学电路部分用于将所述电流脉冲转换成电压脉冲。
2.根据权利要求1所述的探头,其特征在于,所述平板晶体组件包括平板晶体、安装法兰和透光板,
所述平板晶体设于所述安装法兰内,所述透光板固定于所述安装法兰上来封住所述安装法兰的端口,从而将所述平板晶体封装于所述安装法兰内。
3.根据权利要求2所述的探头,其特征在于,所述平板晶体为连续晶体。
4.根据权利要求3所述的探头,其特征在于,所述晶体选为NaI、CsI、BGO的其中之一种材料制成。
5.根据权利要求2所述的探头,其特征在于,所述多像素光子计数器阵列中各个多像素光子计数器分别粘接于所述透光板上。
6.根据权利要求1所述的探头,其特征在于,还包括连接器,所述连接器包括电路板和外连端口,所述电路板分别与所述电子学电路部分,以及所述外连端口电性连接;
其中,所述电路板包括数模转换单元、数据采集单元和数据处理单元,所述数据采集单元分别与所述数模转换单元以及数据处理单元电性连接,所述数模转换单元用于接收来自所述电子学电路部分的电压脉冲信号,并将该电压脉冲信号转换成数字信号,所述数据采集单元用于采集所述数字信号并将所述数字信号传输至所述数据处理单元。
7.一种探测器,其特征在于,包括:
支架;
转盘,可转动设于所述支架上,包括同轴设置的外环和内环,所述内环用于容纳待检测对象;
如权利要求1至6任一项所述的多个探头,多个探头圆周阵列于所述转盘上;
其中,各个所述探头的一端连接于所述外环上,另一端连接于所述内环上,各个所述多像素光子计数器的受光面朝向所述内环。
8.一种探测系统,其特征在于,包括:
如权利要求7所述的探测器;
计算机,所述探测器的各个所述探头分别与该计算机电性连接;
电源,分别与所述计算机和探测器电性连接。
9.一种多像素光子计数器总计数修正方法,其特征在于,包括:
判断多像素光子计数器总计数的输出值的数值范围,所述阈值范围包括第一数值范围、第二数值范围和第三数值范围,所述第一数值范围为小于等于第一阈值的数值范围,所述第二数值范围为大于第一阈值且小于等于第二阈值的数值范围,所述第三数值范围为大于第二阈值的数值范围;
根据判断结果判定是否需要对输出值进行校正。
10.根据权利要求9所述的多像素光子计数器总计数修正方法,其特征在于,根据判断结果判定是否需要对输出值进行校正包括:
若所述输出值处于第一数值范围,则判定对输出值不作校正;
若所述输出值处于第二数值范围,则判定将输出值校正为输出校正值,输出校正值为输出值与第一阈值之差再乘以一个系数;
若所述输出值处于第三数值范围,则判定将输出值校正为输出校正值,输出校正值为输出值加一个常数。
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