[发明专利]一种基于X射线粉末衍射技术的β-HMX晶型纯度检测方法

权利要求书

1.一种基于X射线粉末衍射技术结合化学计量学偏最小二乘法的β-HMX晶型纯度的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：

S1、校正集样品的配制：配制一系列不同组分含量的β-HMX、α-HMX混合晶型样品作为校正集样品，β-HMX晶型纯度按下式计算：

式中：ω_β为样品中β-HMX晶型纯度，以百分数表示；m_β为样品中β-HMX晶型的称样质量；m_α为样品中α-HMX晶型的称样质量；

S2、校正集样品的X射线粉末衍射光谱采集：采用X射线粉末衍射仪对校正集样品进行X射线粉末衍射光谱采集；

S3、β-HMX晶型纯度定量校正模型的建立：对采集的X射线粉末衍射光谱进行光谱预处理，采用偏最小二乘法建立X射线粉末衍射与β-HMX晶型纯度之间的相关性，获得β-HMX晶型纯度定量校正模型；

S4、待测样品的晶型纯度检测：基于步骤S3建立的β-HMX晶型纯度定量校正模型对待测样品进行检测，得出待测样品的β-HMX晶型纯度检测结果。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述步骤S1中，校正集样品的配制是采用湿法研磨、真空干燥的方式进行不同晶型组分的混合。

3.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述步骤S1中，选择色谱纯正已烷作为湿法混合研磨试剂。

4.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述步骤S2中，称取约50mg单个校正集样品，平整铺于X射线衍射专用样品板凹槽内，将铺好样品的样品板放入X射线粉末衍射仪中进行样品的光谱采集，以CuKa射线为衍射源，工作电压40kv，工作电流40mA，扫描角度范围5°～90°，步长0.02°。

5.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述步骤S3中，采用化学计量学方法建立β-HMX晶型纯度定量校正模型，并基于此模型对待测样品进行β-HMX晶型纯度的检测。

6.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述步骤S3中，光谱预处理方法包括矢量归一化、最小-最大归一化、多元散射校正。