[发明专利]验光装置在审

专利信息
申请号: 201910856455.6 申请日: 2019-09-11
公开(公告)号: CN110893093A 公开(公告)日: 2020-03-20
发明(设计)人: 边光春;后藤佳人 申请(专利权)人: 株式会社多美
主分类号: A61B3/10 分类号: A61B3/10;A61B3/16;A61B3/14;A61B3/15
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 薛恒;王琳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 验光 装置
【说明书】:

本公开的一个方面的验光装置具备支撑结构、照明光源、观察光学系统、以及控制部。支撑结构被构造成支撑受检者的脸部。照明光源被构造成照亮受检眼。观察光学系统具备被构造成接收来自受检眼的反射光的摄像元件。控制部从摄像元件获取第一图像以及第二图像,并基于第一图像和第二图像之间的差异来判定受检者的脸部是否放置在支撑结构上,其中,该第一图像是在照明光源点亮期间拍摄的图像,该第二图像是在照明光源熄灭期间拍摄的图像。

技术领域

本公开涉及验光装置。

背景技术

如日本特开2000-254098号公报公开所知的验光装置被构造成检测受检者。在已知的验光装置中,通过以预定频率使发光元件闪烁来发射指标光。来自受光元件的受光信号输入到旁路电路。通过旁路电路从受光信号中选择性地提取具有预定频率的信号。当受检者存在时,提取从受检者反射的指标光的分量。验光装置基于该提取信号来判定受检者是否存在。

还已知一种验光装置,其具备用于判定在放置受检者的脸部的下颌台上是否存在受检者的传感器。

发明内容

在以往的装置中包括用于检测受检者、且与验光不直接相关的专用电路等物理构造。

在此,根据本公开的一个方面,期望可以提供一种能够使用用于验光的构造来检测受检者的验光装置。

本公开的一个方面的验光装置具备支撑结构、照明光源、观察光学系统、以及控制部。支撑结构被构造成支撑受检者的脸部。照明光源被构造成照亮受检者的眼睛即受检眼。观察光学系统具备被构造成接收来自受检眼的反射光的摄像元件。观察光学系统设置成眼用于观受检眼。

控制部被构造成使照明光源点亮或熄灭。控制部被构造成从摄像元件获取第一图像,该第一图像是在照明光源点亮期间由摄像元件拍摄的图像。控制部被构造成从摄像元件获取第二图像,该第二图像是在照明光源熄灭期间由摄像元件拍摄的图像。并且,控制部被构造成基于第一图像和第二图像之间的差异来判定受检者的脸部是否放置在支撑结构上。

根据该验光装置,能够利用用于验光的照明光源以及观察光学系统来判定受检者的脸部是否放置在支撑结构上。

根据本公开的一个方面,控制部可以基于第一图像和第二图像之间的亮度的差异来判定受检者的脸部是否放置在支撑结构上。

根据本公开的一个方面,当第一图像和第二图像之间的亮度的差异为基准值以上时,控制部可以判定受检者的脸部放置在支撑结构上,当亮度的差异小于基准值时,控制部可以判定受检者的脸部没有放置在支撑结构上。

根据本公开的一个方面,验光装置可以具备用于改变观察光学系统相对于支撑结构的相对位置的驱动系统。在判定出受检者的脸部放置在支撑结构上的条件下,控制部可以控制驱动系统,使观察光学系统对准受检眼。

根据本公开的一个方面,控制部可以基于在照明光源点亮期间由摄像元件拍摄的图像来检测受检眼的瞳孔位置,并基于瞳孔位置来控制驱动系统,使观察光学系统对准受检眼。

根据本公开的一个方面,验光装置可以具备位置检测系统,该位置检测系统向受检眼的角膜照射光,并接收来自受检眼的角膜的反射光,由此来检测角膜顶点的位置。控制部可以通过执行粗略对准处理和精细对准处理来使光学系统逐步对准受检眼。

粗略对准处理可以包含如下处理,即,在判定出受检者的脸部放置在支撑结构上的条件下,基于在照明光源点亮期间由摄像元件拍摄的图像来检测受检眼的瞳孔位置,并且基于检测到的瞳孔位置来控制驱动系统,使观察光学系统对准受检眼。

精细对准处理可以包含如下处理,即,基于从位置检测系统获得的角膜顶点的位置来控制驱动系统,使观察光学系统对准受检眼。可以在粗略对准处理之后执行精细对准处理。

附图说明

图1是示出验光装置的外观构造的图。

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