[发明专利]一种通过扫描电镜、显微镜分析试棒力学性能不足的方法在审
申请号: | 201910854480.0 | 申请日: | 2019-09-10 |
公开(公告)号: | CN110531046A | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 高杰;徐超;袁德贝 | 申请(专利权)人: | 青岛华翔航空科技有限公司 |
主分类号: | G01N33/204 | 分类号: | G01N33/204;G01N23/2251;G01N23/2202 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 266000 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 试棒 显微镜分析 力学性能 扫描电镜 电子显微镜观察 扫描电镜分析 扫描电镜观察 铸造技术领域 电子显微镜 经济实用性 晶粒 观察测试 组织结构 等轴晶 断口处 柱状晶 失败 切开 判定 腐蚀 测试 航空 检测 观察 | ||
本发明公开了航空铸造技术领域的一种通过扫描电镜、显微镜分析试棒力学性能不足的方法,该通过扫描电镜、显微镜分析试棒力学性能不足的方法的具体实施步骤如下:步骤一:观察测试失败的试棒断口处是否有缺陷,进行FPI检测;步骤二:观察试棒晶粒;步骤三:将试棒切开,确认柱状晶和等轴晶分布;步骤四:将试棒做成试样,对试样进行腐蚀,使用电子显微镜观察其结构;步骤五:使用扫描电镜观察试样组织结构;步骤六:结合电子显微镜和扫描电镜分析结果,找出测试失败的原因;步骤七:根据上面得出的结论,找到解决方法,相对于目前没有较为科学的方式对其原因进行精确判定,从而无法找到有效的解决方法,经济实用性较强。
技术领域
本发明涉及航空铸造技术领域,具体为一种通过扫描电镜、显微镜分析试棒力学性能不足的方法。
背景技术
航空,一种复杂而有战略意义的人类活动。指飞行器在地球大气层中的飞行活动,以及与此相关的科研教育、工业制造、公共运输、专业作业、航空运动、国防军事、政府管理等众多领域。通过对于空气空间和飞行器的利用,航空活动可以细分为众多独立的行业和领域,典型的如航空制造业、民用航空业等等。常常可以见到人们从各自的领域使用这一词语,其内涵及其丰富和多变。
在航空元件进行铸造时,需要对母合金浇注的试棒进行力学性能测试,而力学性能不足是比较常见的问题,目前没有较为科学的方式对其原因进行精确判定,从而无法找到有效的解决方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种通过扫描电镜、显微镜分析试棒力学性能不足的方法,以解决上述背景技术中提出的在航空铸造领域对母合金浇注的试棒进行力学性能测试时,力学性能不足不能通过较为科学的方式对其原因进行精确判定,从而无法找到有效的解决方法的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种通过扫描电镜、显微镜分析试棒力学性能不足的方法,该通过扫描电镜、显微镜分析试棒力学性能不足的方法的具体实施步骤如下:
步骤一:观察测试失败的试棒断口处是否有缺陷,进行FPI检测;
步骤二:观察试棒晶粒;
步骤三:将试棒切开,确认柱状晶和等轴晶分布;
步骤四:将试棒做成试样,对试样进行腐蚀,使用电子显微镜观察其结构;
步骤五:使用扫描电镜观察试样组织结构;
步骤六:结合电子显微镜和扫描电镜分析结果,找出测试失败的原因;
步骤七:根据上面得出的结论,找到解决方法。
优选的,所述步骤二中晶粒的大小决定着试棒在室温中的拉伸性能,当晶粒越小时,试棒在室温中的拉伸性能越好,反之则越差。
优选的,所述步骤三中等轴晶的数量和分布情况决定着力学的性能,等轴晶越多分布越均匀,力学性能越好,反之则越差。
优选的,所述步骤四中观察的结构中树枝晶的长短决定着二次相的多少及大小,观察的结构中碳化物的多少决定着试棒的力学性能,当树枝晶越短,二次相越少且越小,碳化物越少,试棒的力学性能越好。
优选的,所述步骤五中试样组织结构的γ’相分布均匀性决定着试棒的力学性能,当γ’相分布均匀时,试棒的力学性能更好。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:通过该一种通过扫描电镜、显微镜分析试棒力学性能不足的方法,现在没有较为科学的方式对力学性能不足的原因进行精确的判定,本发明中的方法,通过观察测试失败的试棒断口处是否有缺陷,进行FPI检测,然后通过观察试棒晶粒、将试棒切开、对试样进行腐蚀,通过显微镜和扫描电镜进行结构的观察,从而找出测试失败的原因,从而根据得出的结论找到相应的解决办法。
附图说明
图1为本发明中试棒示意图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于青岛华翔航空科技有限公司,未经青岛华翔航空科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910854480.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。