[发明专利]绝缘寿命试验方法及绝缘试验体

权利要求书

1.一种绝缘寿命试验方法，使用了用于再现定子绕组的主绝缘处的电树枝的发展的绝缘试验体，其特征在于，

所述绝缘寿命试验方法包括：

准备步骤，准备所述绝缘试验体，构成试验装置，所述绝缘试验体具有层叠体和各自的前端具有间隔地插入所述层叠体中的施加侧电极及接地侧电极，所述层叠体是将无机材料的主绝缘层和有机材料的高分子化合物层进行层叠而成的；以及

电压施加步骤，在沿着所述主绝缘层的方向对所述层叠体施加电压，

在所述准备步骤中，使用层叠成可以观察内部状态的程度的层叠体，

所述绝缘寿命试验方法还包括在所述电压施加步骤之后，观察所述绝缘试验体中的电树枝的发展状况的观察步骤。

2.根据权利要求1所述的绝缘寿命试验方法，其特征在于，

所述绝缘寿命试验方法准备多个所述绝缘试验体，所述绝缘寿命试验方法包括对于各个所述绝缘试验体的所述准备步骤和所述电压施加步骤，

所述绝缘寿命试验方法还包括结果整理步骤，根据各个结果整理绝缘击穿时间和击穿概率的关系。

3.根据权利要求2所述的绝缘寿命试验方法，其特征在于，

所述绝缘寿命试验方法还包括在所述准备步骤之前选择试验对象绝缘材料的试验对象材料选择步骤，

所述绝缘寿命试验方法还包括在所述结果整理步骤之后选择候选材料的候选材料选择步骤。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的绝缘寿命试验方法，其特征在于，

所述观察是基于光学方法或者使用X射线的方法进行的。

5.一种绝缘试验体，用于再现定子绕组的主绝缘处的电树枝的发展，其特征在于，

所述绝缘试验体具有：

层叠体，将无机材料的至少一个主绝缘层和有机材料的至少一个高分子化合物层进行层叠而成；

施加侧电极，与所述主绝缘层扩展的面平行地插入一个高分子化合物层的第一端部；以及

接地侧电极，从与所述高分子化合物层的所述第一端部相反侧的第二端部插入，其一端部和所述施加侧电极的前端部之间隔开规定的间隔，

所述层叠体层叠成可以从外部观察内部状态的程度的厚度。

6.根据权利要求5所述的绝缘试验体，其特征在于，

所述观察是基于光学方法或者使用X射线的方法进行的。