[发明专利]基于近红外二区荧光成像用于侧向流免疫检测的试条、检测设备及非诊断目的的检测方法

说明书

本发明提供近红外二区荧光成像在非诊断目的的侧向流免疫检测中的应用，即在侧向流免疫检测试条中使用近红外二区荧光探针提供发射光信号，并使用近红外二区荧光检测仪检测所述发射光信号。本发明还提供基于近红外二区荧光成像的侧向流免疫检测试条、检测设备及非诊断目的的检测方法。本发明所述的近红外二区荧光成像在侧向流免疫检测中的应用具有重要意义，本发明提供的基于近红外二区荧光成像的侧向流免疫检测试条检测灵敏度更高，配合本发明所述的专用检测设备，可使本发明所述的非诊断目的的检测方法信号具有更高的穿透性、本底更低，具有广泛的应用前景。

技术领域

本发明涉及一种侧向流免疫检测方法，具体涉及一种基于近红外二区荧光成像用于侧向流免疫检测的试条、检测设备及非诊断目的的检测方法。

背景技术

侧向流荧光免疫层析技术，是免疫荧光技术和传统免疫层析技术相结合发展创新的一种新型检测技术，该技术操作简便、检测快速、便携性强、灵敏度高、适用于定量检测，广泛应用于传染病、心血管、感染等疾病的临床诊断以及环境监测、食品安全等重要领域。用于侧向流荧光免疫层析检测的标记物主要包括荧光蛋白、荧光化合物、荧光微球、量子点等，目前这些标记物多为紫外光激发、红光检测。但血液标本、硝酸纤维膜、纸条背板等在激发光激发下容易产生标记物发射光波长附近的背景荧光，对检测产生一定的干扰。因此，在目前的侧向流荧光免疫层析技术中，检测灵敏度已达到上限，难以进一步提升。

荧光成像是重要的生物医学成像手段，成像速度快，灵敏度高。常用的荧光成像方法为近红外一区成像(发射波长750～900纳米)，但存在高背景干扰(组织自荧光)、高组织自吸收和高散射、穿透深度小、无法进行深层组织成像等问题。近红外二区荧光探针 (NIR-Ⅱ,1000～1700纳米)由于其发射波长较长,光散射和组织自发荧光干扰较少,在生物组织成像中具有更高的时空分辨率和更深的成像深度，目前已成为分子影像领域的研究热点，可能在活体手术导航、活体深层组织高分辨率荧光成像、淋巴结成像、肿瘤光学成像等方面具有广阔的应用前景，但尚未报道近红外二区荧光探针在侧向流荧光免疫层析检测中的应用。

因此，为了进一步提升现有技术中侧向流荧光免疫层析的检测灵敏度，有必要将近红外二区荧光成像与侧向流免疫层析检测相结合。

发明内容

本发明的首要目的是提供一种基于近红外二区荧光成像的非诊断目的的侧向流免疫检测方法，该方法检测背景极低，可以极大的提升检测的灵敏度，实现待测物的高灵敏检测。

为了实现上述首要目的，本发明还致力于提供一种所述侧向流免疫检测方法的专用检测试条和专用检测设备。

本发明的上述目的通过以下技术方案实现：

首先，本发明提供近红外二区荧光成像在非诊断目的的侧向流免疫检测中的应用，其中，在侧向流免疫检测试条中使用近红外二区荧光探针提供发射光信号，并使用近红外二区荧光检测仪检测所述发射光信号。

为实施所述的应用，本发明还提供一种利用近红外二区荧光进行非诊断目的的侧向流免疫层析的方法，包括：利用近红外二区荧光物质标记待测抗原或抗体；在试条的层析区域包被与所述待测抗原或抗体识别位点不同的抗原或抗体；待测样品与被标记的待测抗原或抗体在所述试条上混合后扩散通过所述层析区域；然后激发所述试条上的近红外二区荧光物质发射荧光信号并加以捕捉成像；根据成像结果判断待测样品中是否含有与所述待测抗原或抗体可发生特异性反应的成分。