[发明专利]一种基于近场竖直向SAR成像的目标与环境耦合分析方法有效

专利信息
申请号: 201910823009.5 申请日: 2019-09-02
公开(公告)号: CN110389342B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 高鹏程;冯明;安锐;徐秀丽 申请(专利权)人: 上海无线电设备研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 上海元好知识产权代理有限公司 31323 代理人: 张妍;刘琰
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 近场 竖直 sar 成像 目标 环境 耦合 分析 方法
【说明书】:

发明公开了一种基于近场竖直向SAR成像的目标与环境耦合分析方法,该方法包括以下步骤:S1、目标与环境竖直向SAR成像参数设置;S2、目标与环境竖直向SAR成像测量;S3、回波数据近场竖直向SAR成像处理;S4、基于竖直向SAR成像的目标与环境耦合散射分析。本发明将成像平面由传统的方位向变为俯仰向,实现目标、环境、以及耦合等不同部分的图像分离,能够准确识别与环境存在强耦合的目标主要部件,并分析耦合形成机理,为复杂环境中目标探测、识别、跟踪等提供理论依据和技术支撑。

技术领域

本发明涉及目标与环境特性的技术领域,具体涉及一种基于近场竖直向SAR成像的目标与环境耦合分析方法。

背景技术

目标与地海环境间存在较为丰富的多次散射机制,耦合机理复杂,探索与分析目标与地海环境间的耦合作用机理,能够为复杂环境中目标探测、识别、跟踪等提供理论依据和技术支撑。因此,研究目标与地海环境间耦合特性具有重要意义。采用成像的方式分析目标与环境散射特性,具有直观的特点,有助于准确分析耦合散射形成的机理。

现有技术采用弹跳射线法(SBR)和截断增量长度绕射系数(TW-ILDCs)仿真了粗糙面上目标的SAR图像,通过分析散射中心位置和强度的变化,研究粗糙面和目标间的耦合作用。虽然通过仿真获取的SAR图像已经具有一定置信度,但仿真图像仍与实测图像存在差异,可能会造成目标与环境耦合机理分析不全甚至错误。

现有技术从射线的角度分析了典型结构的多径效应机制,提出SAR图像中多径散射会产生偏移、延展、分割和模糊效应,并结合Terra-SAR图像分析了桥梁、建筑和油罐的多径散射。但该方法研究的主要对象是规模较大的建筑,对于超低空目标等是否适用仍需深入研究。

现有技术通过记录射线追踪建模方法中每根射线的反射路径,将判断为有效射线所对应的目标表面区域作为散射中心的散射来源,得到的散射来源诊断信息可直接与目标网格模型相关,诊断结果更为完整与直观。但是该方法仅诊断了目标的散射中心来源,并未考虑目标与环境的耦合作用,且通过射线追踪的方式并不能保证遍历所有可能的耦合路径。

现有技术根据超低空目标-环境耦合散射机理,采用四路径电磁散射模型,计算获取不同环境下超低空目标的镜像耦合散射。但该方法主要考虑了由目标与环境三次散射形成的镜像耦合,耦合机理考虑不全面。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于近场竖直向SAR成像的目标与环境耦合分析方法,通过收发天线在竖直方向运动形成有效合成孔径,获取测量对象竖直向高分辨,实现目标、环境、以及耦合等不同部分的图像分离,用于目标与环境耦合机理分析,以及耦合散射中心空间分布规律研究。

为达到上述目的,本发明提供了一种基于近场竖直向SAR成像的目标与环境耦合分析方法,其包括以下步骤:

S1、目标与环境竖直向SAR成像参数设置;

S2、目标与环境竖直向SAR成像测量;

S3、回波数据近场竖直向SAR成像处理;

S4、基于竖直向SAR成像的目标与环境耦合散射分析。

上述的基于近场竖直向SAR成像的目标与环境耦合分析方法,其中,所述的S1中,扫频范围根据研究频段进行设置,扫频间隔Δf、竖直向移动间隔Δz、按照如下公式进行设置:

其中,c为电磁波在真空中的传播速度,dmax为目标最大几何尺度,D1=4dmax为目标在距离方向最大可成像长度,h为目标高度,D2=4h为竖直向最大可成像长度,λ为电磁波波长,R为测试距离。

上述的基于近场竖直向SAR成像的目标与环境耦合分析方法,其中,所述的S2中,具体包含以下步骤,

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