[发明专利]翻转电压的测试方法

权利要求书

1.一种翻转电压的测试方法，其特征在于，包括：

步骤S1，将多个待测的阻变器件串联，形成待测器件组，各所述阻变器件包括至少一个磁性层；

步骤S3，在所述待测器件组所在的空间内施加测试磁场，测量所述待测器件组的测试电阻；

步骤S4，重复执行所述步骤S3多次，直到所述待测器件组的至少部分所述磁性层发生翻转，得到第一关系式，所述第一关系式为所述测试电阻与所述测试磁场之间的关系式，且得到的至少部分所述测试电阻不同，每次重复过程中，后一次的所述测试磁场大于或者小于前一次的所述测试磁场；

步骤S6，至少根据所述第一关系式获取所述待测器件组的相关参数，所述相关参数包括所述待测器件组的翻转磁场的均值和所述翻转磁场的标准差。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，在所述步骤S1和所述步骤S3之间，所述测试方法还包括：

步骤S2，初始化各所述阻变器件，使得各所述阻变器件处于相同的阻态。

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述步骤S2包括以下至少之一：

对所述待测器件组的两端施加预定电压，

对所述待测器件组的两端施加预定电流，

在所述待测器件组所处的空间中施加预定磁场。

4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，

所述步骤S2中，通过在所述待测器件组所处的空间中施加预定磁场，初始化各所述阻变器件，

所述步骤S3中施加的所述测试磁场为与所述预定磁场方向相同且绝对值相等的初始测试磁场，所述步骤S4中施加的所述测试磁场均小于或者大于所述初始测试磁场。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的测试方法，其特征在于，所述阻变器件包括自由层、固定层和钉扎层，在所述步骤S3之前，各所述阻变器件处于第一阻态，所述步骤S4包括：

重复执行所述步骤S3多次，直到所述待测器件组中的所有所述自由层发生翻转，各所述阻变器件的电阻状态变为第二阻态，得到所述第一关系式。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的测试方法，其特征在于，所述阻变器件包括自由层、固定层和钉扎层，在所述步骤S3之前，各所述阻变器件处于第一阻态，所述步骤S4包括：

重复执行所述步骤S3多次，直到所述待测器件组中的所有所述自由层发生翻转，各所述阻变器件的电阻状态变为第二阻态；

重复执行所述步骤S3多次，直到所述待测器件组中的所有所述固定层发生翻转，各所述阻变器件的电阻状态变为所述第一阻态，得到所述第一关系式。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的测试方法，其特征在于，所述阻变器件包括自由层、固定层和钉扎层，在所述步骤S3之前，各所述阻变器件处于第一阻态，所述步骤S4包括：

重复执行所述步骤S3多次，直到所述待测器件组中的所有所述自由层发生翻转，各所述阻变器件的电阻状态由所述第一阻态变为第二阻态；

重复执行所述步骤S3多次，直到所述待测器件组的所有所述固定层发生翻转，各所述阻变器件的电阻状态由所述第二阻态变为所述第一阻态；

重复执行所述步骤S3多次，直到所述待测器件组的至少部分所述钉扎层发生翻转，各所述阻变器件的电阻状态保持所述第一阻态变，得到所述第一关系式。

8.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤S4中，最后一次施加的所述测试磁场为终点测试磁场，所述测试方法还包括：

步骤S5，重复执行所述步骤S3多次，直到所述待测器件组的至少部分所述磁性层发生翻转，得到第二关系式，所述第二关系式为所述测试电阻与所述测试磁场之间的关系式，且得到的至少部分所述测试电阻不同，多次重复过程中，后一次的所述测试磁场与前一次的所述测试磁场之间的差值为第一差值，所述步骤S4中的后一次的所述测试磁场与前一次的所述测试磁场之间的差值为第二差值，所述第一差值和所述第二差值中的一个大于0，另一个小于0。