[发明专利]一种图像噪点的处理方法、装置及电子设备有效
| 申请号: | 201910816338.7 | 申请日: | 2019-08-30 | 
| 公开(公告)号: | CN110519516B | 公开(公告)日: | 2020-09-25 | 
| 发明(设计)人: | 石彬 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 | 
| 主分类号: | H04N5/232 | 分类号: | H04N5/232;H04N5/357;G06T5/00 | 
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李金 | 
| 地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 图像 处理 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种图像噪点的处理方法,包括:
通过对成像器件在当前成像光线下的至少一个成像位置进行线性分析获得所述成像器件在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置;其中,所述成像器件用于对图像中至少一个像素进行成像;所述非线性成像位置对应于噪点位置;
对所述图像中与所述非线性成像位置对应的像素进行去噪处理;
获得成像器件的至少一个非线性成像位置,包括:
在当前成像光线下的光信号进入成像器件时,获得所述成像器件在至少一个成像位置的输出电压信号;
对所述输出电压信号进行信号扰动,得到所述输出电压信号的信号变化特征;
在所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性变化的情况下,确定所述信号变化特征对应的成像位置为非线性成像位置。
2.根据权利要求1所述的方法,对所述输出电压信号进行信号扰动,得到所述输出电压信号的信号变化特征,包括:
获得正向扰动信号叠加到所述输出电压信号所对应的正向判定值;
获得负向扰动信号叠加到所述输出电压信号所对应的负向判定值;
基于所述正向判定值和所述负向判定值,获得所述输出电压信号的信号变化特征。
3.根据权利要求1所述的方法,所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性变化,包括:
所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性放大或非线性缩小。
4.根据权利要求2所述的方法,基于所述正向判定值和所述负向判定值,获得所述输出电压信号的信号变化特征,包括:
如果所述正向判定值和所述负向判定值相一致,获得所述输出电压信号的信号变化特征,其表征所述输出电压信号为非线性变化;
如果所述正向判定值和所述负向判定值不一致,获得所述输出电压信号的信号变化特征,其表征所述输出电压信号为线性变化。
5.根据权利要求2所述的方法,所述正向扰动信号的信号幅值大于所述输出电压信号的信号幅值;
所述负向扰动信号的信号幅值小于所述输出电压信号的信号幅值。
6.一种图像噪点的处理装置,包括:
位置获得单元,用于通过对成像器件在当前成像光线下的至少一个成像位置进行线性分析获得所述成像器件在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置;其中,所述成像器件用于对图像中至少一个像素进行成像;所述非线性成像位置对应于噪点位置;获得成像器件的至少一个非线性成像位置,包括:在当前成像光线下的光信号进入成像器件时,获得所述成像器件在至少一个成像位置的输出电压信号;对所述输出电压信号进行信号扰动,得到所述输出电压信号的信号变化特征;在所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性变化的情况下,确定所述信号变化特征对应的成像位置为非线性成像位置;
去噪处理单元,用于对所述图像中与所述非线性成像位置对应的像素进行去噪处理。
7.一种电子设备,包括:
成像器件,用于对图像中至少一个像素进行成像;
处理器,用于通过对成像器件在当前成像光线下的至少一个成像位置进行线性分析获得所述成像器件在当前成像光线下的至少一个非线性成像位置;所述非线性成像位置对应于噪点位置;对所述图像中与所述非线性成像位置对应的像素进行去噪处理;其中,获得成像器件的至少一个非线性成像位置,包括:在当前成像光线下的光信号进入成像器件时,获得所述成像器件在至少一个成像位置的输出电压信号;对所述输出电压信号进行信号扰动,得到所述输出电压信号的信号变化特征;在所述信号变化特征表征所述输出电压信号为非线性变化的情况下,确定所述信号变化特征对应的成像位置为非线性成像位置。
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