[发明专利]磁共振扫描控制方法、系统和磁共振系统有效

专利信息
申请号: 201910815676.9 申请日: 2019-08-30
公开(公告)号: CN110507326B 公开(公告)日: 2022-12-27
发明(设计)人: 温林飞 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技股份有限公司
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 赵洁修
地址: 201807 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 磁共振 扫描 控制 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种磁共振扫描控制方法,其特征在于,包括以下步骤:

获取磁共振扫描初始图像,并在所述磁共振扫描初始图像中确定感兴趣区域;

根据所述感兴趣区域确定干扰信号的空间位置;获取所述感兴趣区域的脉冲的激发轮廓,根据所述激发轮廓与所述干扰信号的空间位置确定目标干扰区域;

获取所述目标干扰区域对应的饱和带配置参数;

根据所述饱和带配置参数在所述感兴趣区域周围确定第一饱和带。

2.根据权利要求1所述的磁共振扫描控制方法,其特征在于,所述根据所述饱和带配置参数在所述感兴趣区域周围确定第一饱和带的步骤还包括以下步骤:

根据所述感兴趣区域与所述目标干扰区域之间的结构关系以及所述感兴趣区域的位置,确定待配置的第一饱和带条数。

3.根据权利要求1所述的磁共振扫描控制方法,其特征在于,所述根据所述饱和带配置参数在所述感兴趣区域周围确定第一饱和带的步骤包括以下步骤:

若配置的第一饱和带的数量大于一条,判断配置的各第一饱和带之间是否有重叠区域,若是,对处于所述重叠区域的第一饱和带部分进行翻转角调整。

4.根据权利要求1所述的磁共振扫描控制方法,其特征在于,还包括以下步骤:

获取磁共振扫描的多个不同感兴趣区域样本;

根据所述感兴趣区域样本所在的位置和所述感兴趣区域样本周围的干扰区域获取已优化的饱和带配置参数,根据所述感兴趣区域样本、所述干扰区域和已优化的饱和带配置参数之间的关联关系构建数据库;

所述获取所述目标干扰区域对应的饱和带配置参数的步骤包括以下步骤:

根据所述感兴趣区域和所述目标干扰区域从所述数据库中获取对应的饱和带配置参数。

5.根据权利要求4所述的磁共振扫描控制方法,其特征在于,所述数据库包括多种加权对比的结构定位像,所述饱和带配置参数包括饱和带方向和层厚。

6.根据权利要求1至5中任意一项所述的磁共振扫描控制方法,其特征在于,还包括以下步骤:

根据所述饱和带配置参数向扫描对象施加饱和脉冲;

向所述扫描对象施加成像脉冲,以获取干扰信号受抑制的磁共振信号;

根据所述磁共振信号获取所述扫描对象的磁共振重建图像或者波谱数据。

7.一种磁共振扫描控制系统,其特征在于,包括:

区域获取单元,用于获取磁共振扫描初始图像,并在所述磁共振扫描初始图像中确定感兴趣区域;

干扰确定单元,用于根据所述感兴趣区域确定干扰信号的空间位置;获取所述感兴趣区域的脉冲的激发轮廓,根据所述激发轮廓与所述干扰信号的空间位置确定目标干扰区域;

参数获取单元,用于获取所述目标干扰区域对应的饱和带配置参数;

饱和带配置单元,用于根据所述饱和带配置参数在所述感兴趣区域周围确定第一饱和带。

8.一种磁共振系统,包括:

磁共振扫描设备,用于对扫描对象执行磁共振扫描;

存储器,用于存储机器可执行指令;

处理器,用于控制所述磁共振扫描设备,其中,所述机器可执行指令的执行使所述处理器:

获取磁共振扫描初始图像,并在所述磁共振扫描初始图像中确定感兴趣区域;

根据所述感兴趣区域确定干扰信号的空间位置;

获取所述感兴趣区域的脉冲的激发轮廓,根据所述激发轮廓与所述干扰信号的空间位置确定目标干扰区域;

获取所述目标干扰区域对应的饱和带配置参数;

根据所述饱和带配置参数在所述感兴趣区域周围确定第一饱和带。

9.根据权利要求8的磁共振系统,其特征在于,所述机器可执行指令的执行还使所述处理器:

控制所述磁共振扫描设备根据所述饱和带配置参数向所述扫描对象施加饱和脉冲,向所述扫描对象施加脉冲;

获取干扰信号受抑制的磁共振信号;

根据所述磁共振信号获取所述扫描对象的磁共振重建图像或者波谱数据。

10.根据权利要求9的磁共振系统,其特征在于,还包括显示器,所述显示器用于显示:所述磁共振扫描初始图像、所述饱和带配置参数所确定的饱和区域、所述磁共振重建图像、所述波谱数据中的至少一种。

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