[发明专利]一种共焦波导高频电路测试系统有效

专利信息
申请号: 201910813761.1 申请日: 2019-08-30
公开(公告)号: CN110596570B 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 姚叶雷;王建勋;罗勇;王丽;陈锴文;鄢然;刘国;蒋伟;吴泽威;徐勇;蒲友雷 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R27/28
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 邓黎
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 波导 高频 电路 测试 系统
【权利要求书】:

1.在一种共焦波导高频电路测试系统,包括网络分析仪、第一扩频模块、第二扩频模块、同轴-矩形口过渡波导、矩形-同轴口过渡波导和待测件模块,所述网络分析仪产生激励信号,激励信号进入第一扩频模块后产生工作频段的信号,通过同轴-矩形口过渡波导馈入到待测件模块,然后通过矩形-同轴口过渡波导输出到第二扩频模块,最后回到网络分析仪,由网络分析仪得到待测件模块的频率响应特性;

其特征在于:所述待测件模块为左右镜像对称结构,包括依次级联的第一TE10-HE0n模式变换器、镜宽渐变收缩台阶、待测共焦波导高频电路结构、镜宽渐变增大台阶以及第二HE0n-TE10模式变换器;

从同轴-矩形口过渡波导输入的TE10模式经过第一TE10-HE0n模式变换器变换为共焦波导HE0n模式后,通过镜宽渐变收缩台阶将第一TE10-HE0n模式变换器的输出口径渐变过渡到待测共焦波导高频电路结构的输入口径,待测共焦波导高频电路结构的输出口径通过镜宽渐变增大台阶渐变过渡到第二HE0n-TE10模式变换器的输入口径,共焦波导HE0n模式经过第二HE0n-TE10模式变换器变换回TE10模式,并通过矩形-同轴口过渡波导输出。

2.如权利要求1所述的一种共焦波导高频电路测试系统,其特征在于,所述第一TE10-HE0n模式变换器、镜宽渐变收缩台阶、待测共焦波导高频电路结构、镜宽渐变增大台阶以及第二HE0n-TE10模式变换器的上、下部分分别设置有连通的紧固螺杆通孔,两根紧固螺杆分别穿过紧固螺杆通孔将待测件模块固定,使其不发生相对位移,并且能够使多段单元结构增加、减少、重组、拆卸及安装。

3.如权利要求1所述的一种共焦波导高频电路测试系统,其特征在于,所述第一TE10-HE0n模式变换器的侧面设置有定位销钉,所述第二HE0n-TE10模式变换器的侧面设置有定位孔,所述镜宽渐变收缩台阶、待测共焦波导高频电路结构、镜宽渐变增大台阶均是一侧面设置有定位孔、另一侧面设置有定位销钉,第一TE10-HE0n模式变换器、镜宽渐变收缩台阶、待测共焦波导高频电路结构、镜宽渐变增大台阶以及第二HE0n-TE10模式变换器通过定位孔和定位销钉配合实现辅助定位。

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