[发明专利]一种用于测量高精度浅孔直径的测量装置及采用其测量浅孔的方法

说明书

本发明公开了一种用于测量高精度浅孔直径的测量装置，包括气动测量头和气动测量仪，气动测量头一端为螺纹端，另一端为圆柱端，气动测量头通过螺纹端与气动测量仪连接；气动测量头内开有通气盲孔，通气盲孔贯穿了螺纹端，且伸至圆柱端内；圆柱端上开有环形喷嘴排气槽，在环形喷嘴排气槽的中心位置开有径向通孔，径向通孔与通气盲孔相贯通。零件被测量面完全包容了气动测量头的环形结构排气槽，排气槽在使用过程中，空气流量均匀，测量过程稳定，解决了标准量头测量不准确的问题。还公开了采用其测量浅孔的方法，测量过程简单，气动测量精度高，解决了普通塞规精度低的问题。

技术领域

本发明属于孔直径测具技术领域，特别涉及一种用于测量高精度浅孔直径的测量装置及采用其测量浅孔的方法。

背景技术

目前，测量孔直径一般采用千分尺或百分表，但对于深度浅且精度要求高的浅孔或盲孔的直径测量，内径千分尺或内径百分表结构较大，不适用于测量；由于孔精度高，内孔塞规测量精度也达不到要求。专用内径测具结构复杂，检测辅助时间长，检测效率低，同时，专用测具需用标准件进行对比测量，由于为比较法测量，测具占用零件公差大，零件的报废率高。

比如，用标准气动塞规测量如图1所示零件上的半盲孔(01)时，该半盲孔(01)精度高，深度仅为4.921毫米。由于该半盲孔(1)深度浅，标准的喷嘴排气孔直径较大，为Ф4mm或Ф6mm，常使得气动塞规喷嘴不能测量到合理的位置，导致测量结果不稳定，不能得到真实的零件实际尺寸。因此，必须发明一种专门的测量装置，以解决上述测量方法存在的测量效率低、测量结果不准确的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于测量高精度浅孔直径的测量装置及采用其测量浅孔的方法，结构简单，测量过程稳定，解决了标准气动塞规测量不准确的问题。

本发明是通过以下技术方案来实现：

一种用于测量高精度浅孔直径的测量装置，包括气动测量头和气动测量仪，气动测量头一端为螺纹端，另一端为圆柱端，气动测量头通过螺纹端与气动测量仪连接；

气动测量头内开有通气盲孔，通气盲孔贯穿了螺纹端，且伸至圆柱端内；

圆柱端上开有环形喷嘴排气槽，在环形喷嘴排气槽的中心位置开有径向通孔，径向通孔与通气盲孔相贯通。

进一步，圆柱端的直径比被测孔的直径小0.01～0.05mm。

进一步，环形喷嘴排气槽的宽度为1～5mm。

进一步，环形喷嘴排气槽的中心位置与圆柱端的端面的距离为L，环形喷嘴排气槽的宽度为d，被测孔的深度为S，L+d/2<S。

进一步，环形喷嘴排气槽的下沉量δ值为0.003～0.006mm。

进一步，螺纹端的螺纹参数为M14。

进一步，通气盲孔的直径为1.5～5mm。

进一步，径向通孔的直径为环形喷嘴排气槽的宽度值的(1/3～1/2)。

进一步，气动测量仪的型号为QFP型浮标式气动量仪。

本发明还公开了采用所述用于测量高精度浅孔直径的测量装置测量浅孔的方法，包括以下步骤：

1)首先对气动测量仪进行调整，将气动测量仪调整至正确的位置，即气动测量仪刻度尺的上限刻度值和下限刻度值分别对应被测孔的最大直径和最小直径；

2)将气动测量头放入被测孔，调整气动测量仪的气体压力，观察气动测量仪的浮标位置是否落在上限刻度值和下限刻度值内；

浮标位置若在上限刻度值和下限刻度值范围内，则说明被测孔径合格；浮标位置若不在上限刻度值和下限刻度值范围内，则说明被测孔径不合格。