[发明专利]基于二维材料光热电效应的红外探测器及系统

权利要求书

1.一种基于二维材料光热电效应的红外探测器，其特征在于，所述红外探测器包括：基底、绝缘层、二维材料层和金属颗粒层；

所述绝缘层设置在所述基底之上，所述二维材料层设置在所述绝缘层之上，所述金属颗粒层设置在所述二维材料层远离所述基底的面的一侧，且所述金属颗粒层在所述绝缘层上的投影的面积小于所述绝缘层的面积，所述二维材料层可以导电；

其中，所述金属颗粒层内具有金属颗粒，所述金属颗粒具有光热效应，可通过金属颗粒接收一定波长的光以产生一定的热量。

2.根据权利要求1的基于二维材料光热电效应的红外探测器，所述红外探测器还包括挡光层，所述挡光层涂覆在所述二维材料层远离所述基底的一侧。

3.根据权利要求1所述的基于二维材料光热电效应的红外探测器，其特征在于，所述红外探测器还包括正电极和负电极，所述正电极和所述负电极分别设置在所述二维材料层的两侧。

4.根据权利要求1所述的基于二维材料光热电效应的红外探测器，其特征在于，所述二维材料层的材料为：石墨烯、二氧化钼和黑磷中任意一种。

5.根据权利要求1所述的基于二维材料光热电效应的红外探测器，其特征在于，所述红外探测器还包括碳化硅层，所述碳化硅层设置在所述二维材料层与所述绝缘层之间，且与所述金属颗粒层在所述绝缘层上的投影位置重合。

6.根据权利要求1所述的基于二维材料光热电效应的红外探测器，其特征在于，所述红外探测器还包括石墨烯层，所述石墨烯层设置在所述二维材料层和所述金属颗粒层之间，且与所述金属颗粒层在所述绝缘层上的投影位置重合。

7.根据权利要求1所述的基于二维材料光热电效应的红外探测器，其特征在于，所述绝缘层靠近所述二维材料层的一端周期的设置有多个孔洞。

8.根据权利要求1或7所述的基于二维材料光热电效应的红外探测器，其特征在于，所述二维材料层靠近所述金属颗粒层的位置上涂覆有碳化硅颗粒层。

9.根据权利要求1所述的基于二维材料光热电效应的红外探测器，其特征在于，所述金属颗粒层中的金属颗粒为球形、方形、圆环形中任意一种形状。

10.一种基于二维材料光热电效应的红外探测系统，其特征在于，所述红外探测系统包括电能测量装置和权利要求1-9任意一项所述的红外探测器，所述电能测量装置与所述红外探测器电连接。