[发明专利]叶片安装角的测量方法、装置、存储介质及电子设备有效

专利信息
申请号: 201910802669.5 申请日: 2019-08-28
公开(公告)号: CN110514168B 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 石文兵;蒋登科 申请(专利权)人: 三一重能股份有限公司
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 荣颖佳
地址: 102206 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 叶片 安装 测量方法 装置 存储 介质 电子设备
【权利要求书】:

1.一种叶片安装角的测量方法,其特征在于,所述方法包括:

依据距离集合、测量仰角、采样周期及风轮转速生成第一轮廓曲线,其中,所述距离集合为叶片在第一弦处的截面轮廓上的各个点到测距设备的距离的集合,所述第一弦为与所述叶片的最长弦的距离小于或等于预设定的距离阈值的任一弦,所述叶片的开桨角为第一角度;所述测量仰角表征所述测距设备与水平面的夹角,所述采样周期为所述测距设备采样的周期;

依据所述第一轮廓曲线从预设定的轮廓曲线库中筛选出匹配曲线,其中,所述轮廓曲线库包含与所述最长弦的距离小于或等于所述距离阈值的各条弦处的截面轮廓在各个预设定的旋转角下的轮廓曲线;

将所述匹配曲线对应的旋转角与所述第一角度的差确定为所述叶片的安装角;

所述依据距离集合、测量仰角、采样周期及风轮转速生成第一轮廓曲线的步骤包括:

依据所述距离集合和所述测量仰角获得所述第一轮廓曲线的第一轴坐标集合,所述第一轴坐标集合包括所述第一轮廓曲线的各个点的第一轴坐标;

依据所述风轮转速和所述采样周期积分得到所述第一轮廓曲线的第二轴坐标集合,所述第二轴坐标集合包括所述第一轮廓曲线的各个点的第二轴坐标;

依据所述第一轴坐标集合和所述第二轴坐标集合得到所述第一轮廓曲线;

所述依据所述距离集合和所述测量仰角获得所述第一轮廓曲线的第一轴坐标集合的步骤包括:

依据所述测量仰角和所述距离集合生成水平距离集合,其中,所述水平距离集合为所述叶片在第一弦处的截面轮廓上的各个点到所述测距设备的水平距离的集合;

将所述水平距离集合减去最小距离以生成所述第一轮廓曲线的第一轴坐标集合。

2.如权利要求1所述的叶片安装角的测量方法,其特征在于,所述轮廓曲线库为基于叶片模型所建立的。

3.如权利要求1所述的叶片安装角的测量方法,其特征在于,在所述依据距离集合、测量仰角、采样周期及风轮转速生成第一轮廓曲线之前,所述方法还包括:

接收所述测距设备传输的所述距离集合、所述测量仰角及所述采样周期和转速传感器传输的所述风轮转速。

4.一种叶片安装角的测量装置,其特征在于,所述装置包括:

处理模块,用于依据距离集合、测量仰角、采样周期及风轮转速生成第一轮廓曲线,其中,所述距离集合为叶片在第一弦处的截面轮廓上的各个点到测距设备的距离的集合,所述第一弦为与所述叶片的最长弦的距离小于或等于预设定的距离阈值的任一弦,所述叶片的开桨角为第一角度;所述测量仰角表征所述测距设备与水平面的夹角,所述采样周期为所述测距设备采样的周期;

匹配模块,用于依据所述第一轮廓曲线从预设定的轮廓曲线库中筛选出匹配曲线,其中,所述轮廓曲线库包含与所述最长弦的距离小于或等于所述距离阈值的各条弦处的截面轮廓在各个预设定的旋转角下的轮廓曲线;将所述匹配曲线对应的旋转角与所述第一角度的差确定为所述叶片的安装角;

所述处理模块具体用于依据所述距离集合和所述测量仰角获得所述第一轮廓曲线的第一轴坐标集合,所述第一轴坐标集合包括所述第一轮廓曲线的各个点的第一轴坐标;依据所述风轮转速和所述采样周期积分得到所述第一轮廓曲线的第二轴坐标集合,所述第二轴坐标集合包括所述第一轮廓曲线的各个点的第二轴坐标;依据所述第一轴坐标集合和所述第二轴坐标集合得到所述第一轮廓曲线;

依据所述距离集合和所述测量仰角获得所述第一轮廓曲线的第一轴坐标集合包括:

依据所述测量仰角和所述距离集合生成水平距离集合,其中,所述水平距离集合为所述叶片在第一弦处的截面轮廓上的各个点到所述测距设备的水平距离的集合;

将所述水平距离集合减去最小距离以生成所述第一轮廓曲线的第一轴坐标集合。

5.如权利要求4所述的叶片安装角的测量装置,其特征在于,所述装置还包括接收模块:

所述接收模块用于接收所述测距设备传输的所述距离集合、所述测量仰角及所述采样周期和转速传感器传输的所述风轮转速。

6.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-3中任一项所述的方法。

7.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器和存储器,所述存储器用于存储一个或多个程序;当所述一个或多个程序被所述处理器执行时,实现如权利要求1-3中任一项所述的方法。

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