[发明专利]一种基于指标全集的对抗效能评估方法及系统在审

专利信息
申请号: 201910802442.0 申请日: 2019-08-28
公开(公告)号: CN110738386A 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 曲卫;杨君;张婧;姚刚;庞鸿峰;何永华;高天昊 申请(专利权)人: 曲卫
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06Q50/26;G06F17/16
代理公司: 11337 北京市盛峰律师事务所 代理人: 席小东
地址: 101400 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 对抗 下层 判断矩阵 相对权重 效能评估 全集 上层 矩阵 构造判断 次结构 中间量 评估 阶层
【说明书】:

发明提供一种基于指标全集的对抗效能评估方法及系统,包括:建立递阶层次结构;构造判断矩阵;计算判断矩阵中每个元素的平均估计值;得出平均的AHP判断矩阵;计算每个下层指标相对于上层指标的相对权重;对于各个下层指标Bi,其相对于上层指标Ak的相对权重越大,表明该下层指标Bi对对抗干扰能力的影响越大。优点为:本发明提供的一种基于指标全集的对抗效能评估方法及系统,能够对对抗过程的效能进行全方位、全对象、全细节的评估,既关注了对抗的结果,又对对抗产生的各种中间量有所体现,有利于对抗双方对己方的对抗策略进行有针对性的评估和调整。

技术领域

本发明属于对抗效能评估技术领域,具体涉及一种基于指标全集的对抗效能评估方法及系统。

背景技术

卫星侦察属于电子对抗的范畴,包括电子侦察、电子干扰和电子防御三个方面。卫星电子对抗已经成为了现代战场作战中必不可少的重要环节。对电子对抗的性能和效果进行准确有效的评估,对现在的信息作战具有十分重要的意义。

现有技术中,只能对电子对抗的性能和效果进行粗略评估,无法实现对对抗过程的效能进行全方位、全对象、全细节的评估,从而已无法满足人们对现代作战的精确化需求。

发明内容

针对现有技术存在的缺陷,本发明提供一种基于指标全集的对抗效能评估方法及系统,可有效解决上述问题。

本发明采用的技术方案如下:

本发明提供一种基于指标全集的对抗效能评估方法,包括以下步骤:

步骤1,建立递阶层次结构:当需要对对抗系统的对抗效能进行精细评估时,确定影响对抗系统对抗效能的指标,并分析各个指标的层次关系,使上层指标对其所属的下层各个指标具有支配作用,从而建立递阶层次结构;

在所述递阶层次结构中,每个上层指标以及其所属的下层各个指标均形成一组,每组指标均采用步骤2-步骤5的对抗效能评估方法进行评估分析;

步骤2,构造判断矩阵:假设上层指标为Ak,其所属的下层指标共有n个,分别为B1,B2,...,Bn,对于下层各指标相对于上层指标Ak的重要性进行两两比较,得到以下判断矩阵:

判断矩阵中,bij表示对上层指标Ak而言,Bi对Bj的相对重要性;其中,i=1,2,...,n;j=1,2,...,n;

判断矩阵具有下述性质:

其中:

bji表示对上层指标Ak而言,Bj对Bi的相对重要性;

bii表示对上层指标Ak而言,Bi对Bi的相对重要性;

步骤3,计算判断矩阵中每个元素bij的平均估计值E(bij):

其中:m为参加调查的专家数;

元素bij的平均估计值E(bij)的含义为:对上层指标Ak而言,Bj对Bi的相对重要性由m个专家分别给出估计值,再将m个专家给出的估计值求算术平均值,即为平均估计值;

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