[发明专利]一种防止焊盘和探针卡烧毁的测试电路及其使用方法在审
| 申请号： | 201910796050.8 | 申请日： | 2019-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN110456249A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 朱月芹;陈雷刚;周柯 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 31211 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 戴广志<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 201203上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 辅助电路 电流输入端 焊盘 烧毁 二极管 测试电路 测试过程 测试金属 探针卡 电路控制器 高阻值电阻 电压测试 电压产生 断路状态 电迁移 并联 反接 击穿 量测 串联 分担 测试 保证 | ||
1.一种防止焊盘和探针卡烧毁的测试电路，其特征在于，至少包括：
测试金属线和与其并联的辅助电路；
分别连接在所述测试金属线和所述辅助电路两端的第一、第二电流输入端；分别与所述第一、第二电流输入端对应连接的第一、第二电压测试端；
所述辅助电路由一个从所述第一电流输入端至所述第二电流输入端反接的二极管和一个高阻值电阻串联而成。
2.根据权利要求1所述的防止焊盘和探针卡烧毁的测试电路，其特征在于：所述高阻值电阻为用于分担电流的多晶硅控制器件。
3.根据权利要求1所述的防止焊盘和探针卡烧毁的测试电路，其特征在于：该测试电路还包括用于接收量测到的所述高阻值的测试程序。
4.根据权利要求1所述的防止焊盘和探针卡烧毁的测试电路，其特征在于：所述第一、第二电流输入端以及所述第一、第二电压测试端分别连接有焊盘。
5.根据权利要求1至4任意一项所述的防止焊盘和探针卡烧毁的测试电路的使用方法，其特征在于，至少包括以下步骤：
步骤一、在所述第一电流输入端施加电流源，读取所述第一、第二电压测试端的测试值，并得到所述测试金属线的电阻值；
步骤二、当所述辅助电路导通时，通过量测到所述高阻值完成失效测试。
6.根据权利要求5所述的防止焊盘和探针卡烧毁的测试电路的使用方法，其特征在于：步骤二中量测到所述高阻值反馈给测试程序，通过所述测试程序判断失效，完成失效测试。
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