[发明专利]量子成像方法以及量子成像系统

权利要求书

1.一种量子成像方法，应用于量子成像系统，其特征在于，包括：

S10，提供入射光；

S20，所述入射光照射至目标物体后形成信号光，并对所述信号光进行收集，获得第n次信号光测量数据S_n以及第(n+m)次信号光测量数据S_n+m；

S30，提供第n次参考光数据I_n(x，y)与第(n+m)次参考光数据I_n+m(x，y)，其中，所述第n次参考光数据I_n(x，y)为所述第n次信号光测量数据S_n对应的参考数据，所述第(n+m)次参考光数据I_n+m(x，y)为所述第(n+m)次信号光测量数据S_n+m对应的参考数据，用于构建量子成像模型，(x，y)为像素点坐标；

S40，根据所述第n次信号光测量数据S_n、所述第(n+m)次信号光测量数据S_n+m、所述第n次参考光数据I_n(x，y)以及所述第(n+m)次参考光数据I_n+m(x，y)中至少三个参数测量数据构建量子成像模型，以获得所述目标物体的图像；

其中，n与m为任意的正整数；

在所述步骤S40中，根据所述第n次信号光测量数据S_n、所述第(n+m)次信号光测量数据S_n+m以及所述第(n+m)次参考光数据I_n+m(x，y)构建所述量子成像模型，所述量子成像模型为：

G^IGI(x,y)＝＜(S_n+m-S_n)(I_n+m(x,y))＞。

2.如权利要求1所述的量子成像方法，其特征在于，当m为1时，所述量子成像模型为：

G^IGI(x,y)＝＜(S_n+1-S_n)(I_n+1(x,y))＞。

3.如权利要求1所述的量子成像方法，其特征在于，当m为3时，所述量子成像模型为：

G^IGI(x,y)＝＜(S_n+3-S_n)(I_n+3(x,y))＞。

4.如权利要求1所述的量子成像方法，其特征在于，在所述步骤S40中，根据所述第n次信号光测量数据S_n、所述第(n+m)次信号光测量数据S_n+m以及所述第n次参考光数据I_n(x，y)构建所述量子成像模型，所述量子成像模型为：

G^IGI(x,y)＝-＜(S_n+m-S_n)(I_n(x,y))＞。

5.如权利要求4所述的量子成像方法，其特征在于，当m为1时，所述量子成像模型为：

G^IGI(x,y)＝-＜(S_n+1-S_n)(I_n(x,y))＞。

6.如权利要求1所述的量子成像方法，其特征在于，在所述步骤S40中，根据所述第(n+m)次信号光测量数据S_n+m、所述第n次参考光数据I_n(x，y)以及所述第(n+m)次参考光数据I_n+m(x，y)构建所述量子成像模型，所述量子成像模型为：

G^IGI(x,y)＝＜S_n+m(I_n+m(x,y)-I_n(x,y))＞。