[发明专利]目标检测模型的定位质量评价方法、定位方法及设备有效

专利信息
申请号: 201910794302.3 申请日: 2019-08-27
公开(公告)号: CN110503095B 公开(公告)日: 2022-06-03
发明(设计)人: 丁建伟;王蓉;李锦泽 申请(专利权)人: 中国人民公安大学
主分类号: G06V10/25 分类号: G06V10/25
代理公司: 北京金咨知识产权代理有限公司 11612 代理人: 秦景芳
地址: 100038 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 目标 检测 模型 定位 质量 评价 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种目标检测模型的定位质量评价方法,其特征在于,包括:

利用目标检测模型对待检测目标进行定位,得到相应的预测框;

计算所述预测框与相应的真实框的交并比、中心距离及最小覆盖框的对角线长度;

计算所述中心距离和相应的所述最小覆盖框对角线长度的相对位置参数;

利用所述相对位置参数修正相应的所述交并比,得到交并比修正值;

根据所述交并比修正值评价所述目标检测模型的定位质量。

2.根据权利要求1所述的目标检测模型的定位质量评价方法,其特征在于,计算所述中心距离和相应的所述最小覆盖框对角线长度的相对位置参数,包括:

计算所述中心距离和所述最小覆盖框对角线长度的商,得到所述相对位置参数。

3.根据权利要求2所述的目标检测模型的定位质量评价方法,其特征在于,利用所述相对位置参数修正相应的所述交并比,得到交并比修正值,包括:

计算所述交并比与所述相对位置参数的差,得到所述交并比修正值。

4.根据权利要求3所述的目标检测模型的定位质量评价方法,其特征在于,根据所述交并比修正值评价所述目标检测模型的定位质量,包括:

将所述交并比修正值大于第一设定值的所述预测框判断为定位结果正确。

5.一种目标定位方法,其特征在于,包括:

通过目标检测定位运算分别获取多个待检测目标的多个预测框和对应的分类概率值;

计算所述预测框之间的交并比、中心距离及最小覆盖框的对角线长度;

计算所述中心距离和相应的所述最小覆盖框对角线长度的相对位置参数;

利用所述相对位置参数修正相应的所述交并比,得到交并比修正值;

以所述交并比修正值为标准筛选各所述待检测目标的最优预测框。

6.根据权利要求5所述的目标定位方法,其特征在于,计算所述中心距离和相应的所述最小覆盖框对角线长度的相对位置参数,包括:

计算所述中心距离和所述最小覆盖框对角线长度的商,得到所述相对位置参数。

7.根据权利要求6所述的目标定位方法,其特征在于,利用所述相对位置参数修正相应的所述交并比,得到交并比修正值,包括:

计算所述交并比与所述相对位置参数的差,得到所述交并比修正值。

8.根据权利要求7所述的目标定位方法,其特征在于,以所述交并比修正值为标准筛选所述待检测目标的最优预测框,包括:

以所述交并比修正值为标准用非极大值抑制迭代筛选出所述最优预测框。

9.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现权利要求1至8任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求1至8任一项所述方法的步骤。

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