[发明专利]一种多普勒雷达芯片验证方法及装置

权利要求书

1.一种多普勒雷达芯片验证方法，步骤包括：

步骤S1：无发射天线工作，测量芯片输出管脚，在没有反射信号的情况下判断雷达芯片能否正常响应，若能正常响应，则执行步骤S2，若不能正常响应，则发出芯片异常处置信号；

步骤S2：控制发射天线A工作，测量芯片输出管脚，判断在有反射信号但无运动目标时雷达芯片能否正常响应，若能正常响应，则执行步骤S3，若不能正常响应，则发出芯片异常处置信号；

步骤S3：控制发射天线C工作，测量芯片输出管脚，判断雷达芯片能否对运动目标做出正常响应，若能正常响应，发出芯片正常处理信号，返回步骤S1，继续测试下一芯片，若不能正常响应，则发出芯片异常处置信号；所述发射天线A通过射频开关控制工作状态，所述发射天线C通过所述射频开关控制工作状态，所述控制电路控制所述射频开关动作，所述控制电路控制所述芯片工作状态，所述控制电路控制所述测试机台采样动作，所述测试机台采用探头采样；

所述多普勒雷达芯片验证方法具体步骤为：

（1）测试机台将芯片放置在相应位置后，将信号送给控制电路，控制电路获取芯片放置完毕信号，通过射频开关控制发射天线A、发射天线C处于不工作状态，控制电路控制芯片开始工作；

（2）控制电路传输开始采样信号给测试机台，测试机台收到信号后，使用探头对多普勒雷达芯片的输出管脚进行采样，采样完成后将采样结果传输到控制电路；

（3）控制电路收到采样结果后，与预设正常范围比较，并保存数据在控制电路中，若芯片输出数据在预设正常范围内，继续下一步骤，否则该芯片异常，控制电路传递正确处置当前芯片和准备测试下一芯片的指令给测试机台，返回步骤（1）；

（4）控制电路通过射频开关控制发射天线A处于工作状态，发射天线C处于不工作状态，传输开始采样指令给测试机台；

（5）重复步骤（2）、（3）；

（6）控制电路通过射频开关控制发射天线C处于工作状态，发射天线A处于不工作状态，控制电路输送开始采样指令给测试机台；

（7）执行步骤（2）；

（8）控制电路收到采样结果后，与预设正常范围比较，并保存数据在控制电路中，若芯片输出数据在预设正常范围内，判定芯片合格，控制电路传输芯片合格信号及准备下一芯片的信号给测试机台，返回步骤（1）；若输出数据超出预设正常范围，控制电路传输正确处置目前芯片并准备下一芯片的信号给测试机台，返回步骤（1）。

2.根据权利要求1所述的多普勒雷达芯片验证方法，其特征在于，所述预设正常范围通过按照实际测量时的设备参数与相对摆放位置模拟测量得出，每次实际测量的结果保留在控制电路中，用于对预设正常值的范围进行合理修正。

3.一种应用于权利要求2所述方法的多普勒雷达芯片验证装置，设有测试机台、运动目标，其特征在于，还设有射频天线、射频开关、控制电路，所述控制电路与所述射频开关电连接，所述控制电路与所述测试机台电连接，所述射频开关与所述射频天线电连接。

4.根据权利要求3所述的多普勒雷达芯片验证装置，其特征在于，所述运动目标为风扇，所述风扇为固定转速。

5.根据权利要求4所述的多普勒雷达芯片验证装置，其特征在于，所述射频天线包括发射天线A、发射天线C、接收天线B，所述发射天线C与所述接收天线B位于所述测试机台上芯片所在的平面，所述发射天线C与所述接收天线B朝向所述风扇，所述发射天线A位于所述风扇所在平面与所述芯片所在平面之间，所述发射天线A朝向所述芯片，所述接收天线B和所述芯片相连，所述发射天线A与所述射频开关相连，所述发射天线C与所述射频开关相连，所述射频开关与所述芯片相连。

6.根据权利要求5所述的多普勒雷达芯片验证装置，其特征在于，所述接收天线B通过同轴线与所述芯片接收管脚相连，所述发射天线A与所述射频开关相连后接到所述芯片的发射管脚，所述发射天线C与所述射频开关相连后接到所述芯片的发射管脚。

7.根据权利要求6所述的多普勒雷达芯片验证装置，其特征在于，所述芯片所在平面上设有电磁吸收材料。