[发明专利]微波显微成像方法、装置及系统

权利要求书

1.一种微波显微成像方法，其特征在于，应用于微波显微成像系统，所述方法包括：

获取第一光声信号及第二光声信号，其中，所述第一光声信号及所述第二光声信号分别为对待测样品包含的多个激发点中的目标激发点使用脉冲微波加热前、后的光声信号；

根据所述第一光声信号及所述第二光声信号确定所述目标激发点的微波吸收系数，其中，所述微波吸收系数与所述目标激发点对应；

根据每个所述激发点的位置坐标及对应的所述微波吸收系数得到所述待测样品的微波显微图像；

所述根据所述第一光声信号及所述第二光声信号确定所述目标激发点的微波吸收系数的步骤包括：

根据所述第一光声信号与所述第二光声信号确定所述目标激发点的温度变化量；所述第一光声信号、所述第二光声信号及所述温度变化量满足算式：

其中，PA₀为所述第一光声信号，且PA₀∝α(AT₀+B)，PA₁为所述第二光声信号，且PA₁∝α[A(T₀+ΔT)+B]，α为预设定的激光吸收系数，A为预设定的第一系数，B为预设定的第二系数，T₀为预先获取的室内环境温度，ΔT为所述温度变化量；

基于所述温度变化量及预设定的参数集确定所述目标激发点的微波吸收系数，所述预设定的参数集包含微波辐射所持续的预设时长、微波重复频率、微波能量、待测样品的密度以及待测样品的比热容，所述温度变化量、所述预设定的参数集以及所述微波吸收系数满足算式：

其中，ΔT为所述温度变化量，t为微波辐射所持续的预设时长，f为所述微波重复频率，β为所述微波吸收系数，H为所述微波能量，ρ为所述待测样品的密度，C_p为所述待测样品的比热容。

2.根据权利要求1所述的微波显微成像方法，其特征在于，所述微波显微成像系统包括处理器、激光发生单元、微波发生单元、超声探测单元以及耦合单元，所述待测样品设置于所述耦合单元内，所述处理器与所述激光发生单元、所述微波发生单元以及所述超声探测单元分别电连接，所述获取第一光声信号及第二光声信号的步骤包括：

控制所述激光发生单元向所述目标激发点发射脉冲激光；

接收所述超声探测单元采集的第一光声信号；

在第一预设时间后，控制所述微波发生单元向所述目标激发点发射脉冲微波并持续预设时长以加热所述目标激发点；

再次控制所述激光发生单元向所述目标激发点发射所述脉冲激光，并接收所述超声探测单元采集的第二光声信号。