[发明专利]检测处理器运行状态的装置和方法

说明书

公开了一种检测处理器运行状态的装置和方法。该装置可以包括随机数发生器、多个多路选择器、多个多路分配器、运算器阵列和检测电路。该装置可以响应于测试使能信号，将由随机数发生器产生的随机数传送给运算器阵列中的每个运算器，并将每个运算器基于随机数执行运算所得到的数据传送给检测电路。检测电路可以根据所接收的数据检测前述处理器的运行状态。通过根据本公开的实施例的装置和方法，提供了一种高效率的硬件自检方案。

技术领域

本公开涉及一种检测处理器运行状态的装置和方法。

背景技术

诸如车用芯片等芯片在功能安全方面具有很高的要求，并且要求能够检测出单点故障。始终期望能够具有更加高效的故障检测手段。

发明内容

根据本公开的一个方面，提供了一种检测处理器运行状态的装置。该装置可以包括：随机数发生器；多个多路选择器，每个多路选择器的第一数据输入端和第二数据输入端分别耦接到前述装置的数据输入端和前述随机数发生器的输出端，并且每个多路选择器被配置为响应于测试使能信号，选择经由该多路选择器的数据输出端输出经由该多路选择器的第二数据输入端输入的数据；多个多路分配器，每个多路分配器的第一数据输出端和第二数据输出端分别耦接到前述装置的数据输出端和检测电路，并且每个多路分配器被配置为响应于前述测试使能信号，选择经由该多路分配器的第二数据输出端输出经由该多路分配器的数据输入端输入的数据；运算器阵列，包括多个运算器，前述多个运算器中的每个运算器的每个数据输入端耦接到对应的多路选择器的数据输出端，并且每个运算器的数据输出端耦接到对应的多路分配器的数据输入端；以及前述检测电路，被配置为根据经由前述多个多路分配器接收的数据检测前述处理器的运行状态。

根据本公开的另一个方面，还提供了一种检测处理器运行状态的方法。该方法可以包括：响应于测试使能信号，将由随机数发生器产生的随机数传送给运算器阵列中的每个运算器；响应于前述测试使能信号，将每个运算器基于前述随机数执行运算所得到的数据传送给检测电路；以及响应于前述测试使能信号，启动前述检测电路，以根据所接收的数据检测前述处理器的运行状态。

根据本公开的另一个方面，还提供了一种计算机可读存储介质。该存储介质存储有用于执行上述方法的计算机程序。

根据本公开的另一个方面，还提供了一种电子设备。该电子设备可以包括处理器和用于存储处理器可执行指令的存储器，其中，处理器可以用于从存储器中读取用以实现上述方法的可执行指令。

根据本公开的实施例的装置和方法，能够以较低的成本高效率地实现处理器和/或处理器中的运算器阵列的硬件自动检测，而不会降低处理器的处理性能，并且不会消耗额外的存储资源。

附图说明

通过结合附图对本公开实施例进行更详细的描述，本公开的上述以及其他目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本公开实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本公开实施例一起用于解释本公开，并不构成对本公开的限制。在附图中，相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。

图1是根据本公开的实施例的装置的示例。

图2是根据本公开的实施例的装置的示例。

图3是根据本公开的实施例的装置的示例。

图4是根据本公开的实施例的装置的示例。

图5是根据本公开的实施例的信号的示例。

图6是根据本公开的实施例的装置的示例。

图7是根据本公开的实施例的装置的示例。

图8是根据本公开的实施例的方法的示例。

图9是根据本公开的实施例的方法的示例。

图10是根据本公开的实施例的方法的示例。