[发明专利]一种识别位置谱的方法、装置以及计算机存储介质

权利要求书

1.一种识别位置谱的方法，所述位置谱为光子的二维位置分布图，所述位置谱包含从探测器输出的单事件中提取的所有光子的位置信息，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

步骤S1：对初始位置谱进行预处理以得到第一位置谱；

步骤S2：对所述第一位置谱进行特征提取，得到多个第二位置谱，特征提取的具体步骤包括：

步骤S21：确定一组第二方差σ₁，σ₂，…，σ_n，n为自然数，根据每一个所述第二方差σ_n和相同的尺寸大小生成n个第二高斯模板，记为g；

步骤S22：求每一个所述第二高斯模板与所述第一位置谱卷积后的Hessian矩阵，

其中，x、y为所述位置谱的图像中对应的正交坐标轴；

步骤S23：计算n个Hessian矩阵的行列式：得到n个第二位置谱；

步骤S3：对所述第二位置谱进行极值搜索，得到N个极值点，所述极值点形成第三位置谱，其中，N为所述探测器中闪烁晶体的数量；

步骤S4：对所述第三位置谱中的所述极值点进行全局编号，形成第六位置谱，全局编号的具体步骤包括：

步骤S41：获取所有所述极值点的位置坐标和位置响应半径；

步骤S42：提取所述极值点的所述位置坐标在所述位置响应半径范围内的区域；

步骤S43：计算每个所述区域内在行/列方向上的相应维度坐标的最小值；

步骤S44：对N个最小值进行排序，第m×(n-1)+1到第m×n个最小值对应的极值点隶属于第n行/列，m为某一行/列上的闪烁晶体数量，n为自然数；

步骤S45：根据所述极值点所分配的行/列按闪烁晶体阵列实际的几何顺序进行编号，将编号显示在极值点周围以形成所述第六位置谱；

步骤S5：根据所述第六位置谱中的所述极值点对所述单事件进行聚类，形成最终位置谱，完成位置谱的分割。

2.根据权利要求1所述的识别位置谱的方法，其特征在于，在所述步骤S1中，所述预处理的具体步骤为：选取第一高斯模板的尺寸大小和第一方差，将所述初始位置谱与所述第一高斯模板进行卷积处理以得到第一位置谱。

3.根据权利要求1所述的识别位置谱的方法，其特征在于，在所述步骤S22中，求Hessian矩阵的具体步骤包括：

第一步，根据不同的所述第二方差计算所述第二高斯模板关于x的二阶偏导：

第二步，根据不同的所述第二方差计算所述第二高斯模板关于y的二阶偏导：

第三步，根据不同的所述第二方差计算所述第二高斯模板关于x的偏导后再计算关于y的偏导：

第四步，对上述三种偏导进行规范化，即乘上之后将三种偏导分别与所述第一位置谱进行卷积操作，得到n个L_xx，L_xy，L_yy，从而获得n个Hessian矩阵。

4.根据权利要求1所述的识别位置谱的方法，其特征在于，在上述步骤S3中，进行极值搜索之前需要对多个所述第二位置谱进行形态学膨胀处理以得到膨胀位置谱。

5.根据权利要求4所述的识别位置谱的方法，其特征在于，在上述步骤S3中，极值搜索的具体步骤是在多个所述膨胀位置谱中搜索最大的N个值以得到所述第三位置谱。

6.根据权利要求1所述的识别位置谱的方法，其特征在于，在所述步骤S5中，事件聚类是指获得位置谱中极值点的所述位置坐标后，对所有单事件按照位置信息进行聚类，生成晶体对照表并获得位置谱的分割结果。