[发明专利]光学粒子传感器装置和操作光学粒子传感器装置的方法

权利要求书

1.一种光学粒子传感器装置(1)，其包括：

光学发射器装置(2)，其被设计为将N个众多数量的测量激光束(L_i)发射到光学粒子传感器装置(1)附近；

检测器装置(3)，其被设计为检测在所述光学粒子传感器装置(1)附近的粒子上散射的所述测量激光束(L_i)，并针对每个测量激光束(L_i)生成分配给它的单次测量信号(E_i)；以及

评估装置(4)，其被设计为使用至少一个单次测量信号(E_i)确定每体积粒子数的至少一个估计粒子值，

其特征在于，所述评估装置(4)被设计为：

a.确定每体积粒子数的至少两个估计粒子值，所述至少两个估计粒子值基于至少部分不同的单次测量信号(E_i)和/或不同数量的单次测量信号(E_i)，以及

b.基于至少部分所述估计粒子值，确定粒子负载的至少一个输出值。

2.根据权利要求1所述的光学粒子传感器装置(1)，其特征在于，所述评估装置(4)被设计为基于所述至少两个估计粒子值确定每体积粒子的总数，所述每体积粒子的总数用作确定所述粒子负载的至少一个输出值的基础。

3.根据权利要求1所述的光学粒子传感器装置(1)，其特征在于，所述评估装置(4)被设计为针对至少部分所述估计粒子值相应地确定粒子负载的估计值，并将粒子负载的这些估计值作为确定所述粒子负载的至少一个输出值的基础。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的光学粒子传感器装置(1)，其特征在于，所述评估装置(4)被设计为当确定所述估计粒子值时考虑状态信息，所述状态信息报告与所述单次测量信号(E_i)有关的所述发射器装置(2)和/或所述检测器装置(3)的功能状态，特别是故障或错误。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的光学粒子传感器装置(1)，其特征在于，所述评估装置(4)被设计为

a.基于每个单独的单次测量信号(E_i)，和/或，

b.基于每n个数量的不同的单次测量信号(E_i)，其中数量n小于或等于众多数量N(n≤N)

来确定估计粒子值。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的光学粒子传感器装置(1)，其特征在于，所述评估装置(4)被设计为：

a.比较检测到的估计粒子值和/或检测到的粒子负载的估计值，并根据它们与检测到的估计粒子值的平均值或所述粒子负载的估计值的平均值的偏差对它们进行加权，以及

b.当确定所述粒子负载的输出值时，仅考虑与所述平均值的偏差不超过规定的度量值的检测到的估计粒子值和/或检测到的粒子负载的估计值。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的光学粒子传感器装置(1)，其特征在于，所述评估装置(4)被设计为，将检测到的估计粒子值的平均值和/或检测到的粒子负载的估计值的平均值作为确定粒子负载的输出值的基础。

8.根据前述任一项权利要求所述的光学粒子传感器装置(1)，

a.其中，所述光学发射器装置(2)包括至少一个激光二极管(21，22，23)，特别是VCSEL，和/或所述检测器装置(3)包括至少一个光电二极管(31，32，33)，特别是集成到所述至少一个激光二极管(21，22，23)中的至少一个光电二极管(31，32，33)，

b.其中，所述评估装置(4)被设计为将由所述至少一个光电二极管(31，32，33)产生的光电流评估为单次测量信号(E_i)，以便确定用于确定估计粒子值的至少一个参数，特别是所述光电流的最大幅度、频率、信噪比和光电流的幅度超过规定阈值的时间点。