[发明专利]一种螺旋溜槽中流膜厚度及流态分布测试系统与方法有效
申请号: | 201910754108.2 | 申请日: | 2019-08-15 |
公开(公告)号: | CN110441548B | 公开(公告)日: | 2021-04-23 |
发明(设计)人: | 高淑玲;孟令国;魏德洲;崔宝玉;沈岩柏;赵强;侯端旭;王学涛 | 申请(专利权)人: | 东北大学 |
主分类号: | G01P5/20 | 分类号: | G01P5/20;G01B11/06;G01M10/00 |
代理公司: | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人: | 姜玉蓉;李洪福 |
地址: | 110819 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 螺旋 溜槽 中流 厚度 分布 测试 系统 方法 | ||
1.一种螺旋溜槽中流膜厚度及流态分布测试系统的测试方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1、在盛有蒸馏水的接料桶(11)中加入微量示踪粒子并使其均匀分布,开启蠕动泵(9),将接料桶(11)中的液流输送至高位水箱(8),此时回流阀(5)、出水阀(6)和流量阀(7)均为关闭状态;当高位水箱(8)中的水位与回流阀(5)平齐时,将回流阀(5)、出水阀(6)、流量阀(7)调至全通状态,此时高位水箱(8)中的水会经过给料管(3)进入给料装置(2),水流受重力作用向下自流,流至螺旋溜槽(1)第五圈末端时经导流装置(10)引入接料桶(11);在蠕动泵(9)的抽吸作用下,接料桶(11)中的液流重返高位水箱(8)从而形成闭路循环;
S2、通过调节蠕动泵(9)的转速和高位水箱(8)的流量阀(7)确定适宜的给料流量,当高位水箱(8)的水位在一段时间内始终与回流阀(5)持平且回流管(4)中一直有微量水流溢出时,即给料流量达到稳定循环状态;
S3、给料流量稳定后,开启激光多普勒测速仪,测量螺旋溜槽(1)末端槽面不同径向位置的流膜厚度;
S4、调节激光多普勒测速仪激光光轴所在直线垂直于螺旋溜槽(1)末端槽面的横断面,将激光焦点聚焦于螺旋溜槽(1)外缘处的槽底附近;通过坐标架(13)带动激光探头(12)沿垂直方向上移,此时流速会从0变为一定值,将流速变化前的流速零值处定为水层最低点,当激光焦点逐渐上移到水层表面时,监测的多普勒信号明显变弱,此时将该点作为气液界面;从而获得流膜厚度D1,依次沿径向向内每隔2mm测量一次液膜厚度,进而测得不同径向位置处的流膜厚度D2、D3……Di;
S5、调节激光多普勒测速仪激光光轴所在直线垂直于螺旋溜槽(1)末端截面,根据所述步骤S4中测出的流膜厚度设置测量起点和终点,测量路径为自下而上,测量步长为0.01mm;测量过程中,四束激光同时开启,其中左右两束激光用于测量径向速度,上下两束激光用于测量轴向速度,从而测得不同径向位置处的径向速度Vx和轴向速度Vy沿水深方向的分布情况,并将不同水深处的径向速度和轴向速度分别取平均值;
S6、调节激光多普勒测速仪激光光轴所在直线重合于螺旋溜槽(1)末端截面,考虑到槽体会在一定程度上阻挡激光入射,需在一定范围内调整激光探头(12)角度,并使其不影响切向速度的测量,根据所述步骤S4中测出的流膜厚度设置测量起点和终点,测量路径为自下而上,测量步长为0.01mm;测量过程中,打开左右两束激光测量切向速度,从而测得不同径向位置处的切向速度Vz沿水深方向的分布情况,并将不同水深处的切向速度取平均值;
S7、根据步骤S5、S6中测得的三维速度,计算不同径向位置处的液流总速度,其计算公式如下:
式中,V为流体总流速,为径向速度平均值,为轴向速度平均值,为切向速度平均值;
S8、计算雷诺数分布,确定流态分布范围,其计算公式如下:
式中,Re为流体雷诺数;V为流体总流速,单位为m/s;D为流膜厚度,m;ρ为流体密度,单位为kg/m3,蒸馏水的密度为1000kg/m3;μ为流体黏度,单位为Pa·s,蒸馏水的黏度为1×10-3Pa·s;
所述螺旋溜槽中流膜厚度及流态分布测试系统包括:螺旋溜槽分选装置、流体输送与循环装置和流速测试装置;
所述螺旋溜槽分选装置包括螺旋溜槽(1)、给料装置(2)和导流装置(10);所述给料装置(2)与所述螺旋溜槽(1)的顶部端口螺栓连接,所述导流装置(10)与所述螺旋溜槽(1)的末端螺栓连接;
所述流体输送与循环装置包括高位水箱(8)、接料桶(11)和蠕动泵(9);所述蠕动泵(9)连接接料桶(11),用于将所述接料桶(11)中的流体输送至所述高位水箱(8);
所述流速测试装置包括计算机处理器(15)、坐标控制器(16)、激光控制器(14)、坐标架(13)和激光探头(12),所述计算机处理器(15)、坐标控制器(16)、激光控制器(14)、坐标架(13)和激光探头(12)实现电连接;所述坐标控制器(16)控制所述坐标架(13)三维移动,所述激光控制器(14)控制所述激光探头(12)发射激光的数量及强弱,所述计算机处理器(15)处理测试数据。
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