[发明专利]一种底库录入方法及装置在审

专利信息
申请号: 201910750561.6 申请日: 2019-08-14
公开(公告)号: CN112395436A 公开(公告)日: 2021-02-23
发明(设计)人: 丁岩;任彦斌 申请(专利权)人: 北京迈格威科技有限公司
主分类号: G06F16/51 分类号: G06F16/51;G06K9/62
代理公司: 北京钲霖知识产权代理有限公司 11722 代理人: 冯志云;李志新
地址: 100190 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 录入 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种底库录入方法,其中,该方法包括:

录入步骤,将特征录入至底库;

第一判断步骤,判断当前录入所述底库的特征数是否达到底库尺寸,若是,完成所述底库录入,若否,执行生成步骤,其中,所述底库尺寸为所述底库可存储的特征数;

生成步骤,生成假特征,其中,在所述底库的所述特征被调用时,所述假特征被忽略;

假特征录入步骤,录入所述假特征至所述底库,执行所述第一判断步骤。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述生成步骤包括:

选择所述底库的一个特征为假特征模板;

在所述假特征模板中加入特殊标签,生成所述假特征。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述在所述假特征模板中加入特殊标签,生成假特征,包括:

在所述假特征模板的特定区域加入所述特殊标签,生成所述假特征,其中,在所述特征被调用时,如所述特定区域具有所述特殊标签,则忽略所述特征。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述录入步骤之前,所述方法还包括:

获取步骤,获取一个特征集,所述特征集包括多个所述特征。

5.根据权利要求4所述的方法,其中,在所述录入步骤之后,所述方法还包括:

第二判断步骤,判断当前录入所述底库的特征数是否达到所述底库尺寸,若是,完成所述底库录入,若否,执行第三判断步骤;

第三判断步骤,判断所述特征集的所述特征是否完全录入所述底库,若是,执行所述第一判断步骤,若否,执行所述录入步骤。

6.一种底库特征调用方法,其中,所述方法包括:

获取底库步骤,所述底库包括多个特征,所述底库通过如权利要求1-5中任一项所述的底库录入方法完成录入;

获取特征步骤,获取所述底库中的一个所述特征;

判断步骤,判断所述特征是否为所述假特征,若是,则忽略所述假特征,返回所述获取特征步骤,若否,调用所述特征。

7.一种特征对比方法,其中,所述方法包括:

读入步骤,读入待识别特征集中的一个解锁特征,其中,所述待识别特征集包括多个所述解锁特征;

底库特征调用步骤,通过如权利要求6所述的底库特征调用方法,调用所述底库中的所述特征;

比对步骤,比对所述解锁特征与调用的所述特征。

8.根据权利要求7所述的方法,其中,所述方法还包括:

判断步骤,判断所述待识别特征集中的所有解锁特征是否与所述底库的所有底库特征比对完成,若是,输出比对结果,完成特征对比,若否,执行所述读入步骤。

9.根据权利要求7或8所述的方法,其中,所述读入步骤之前还包括:

生成待识别特征集步骤,其中,软件工具开发包SDK根据采集的特征图片生成所述待识别特征集。

10.一种底库录入装置,包括:

第一录入单元,用于将特征录入至底库;

第一判断单元,用于判断当前录入所述底库的特征数是否达到底库尺寸,若是,完成所述底库录入,若否,执行生成单元中的步骤,其中,所述底库尺寸为所述底库可存储的特征数;

生成单元,用于生成假特征,其中,在所述底库的所述特征被调用时,所述假特征被忽略;

第二录入单元,用于录入所述假特征至所述底库,执行所述第一判断单元中的步骤。

11.一种底库特征调用装置,包括:

获取单元,用于底库通过如权利要求1-5任一项所述的底库录入方法完成录入,所述底库包括多个特征;

调用单元,用于调用所述底库中的一个所述特征;

判断单元,用于判断所述特征是否为所述假特征,若是,则忽略所述假特征,执行所述调用单元中的步骤,若否,调用所述特征。

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