[发明专利]星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法

权利要求书

1.一种星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1，列举卫星上的辐射敏感元器件，判断辐射损伤对辐射敏感元器件的后果及严重程度；

步骤2，对同批次辐射敏感元器件进行总剂量辐照测试，获得同批次辐射敏感元器件抗总剂量的辐照测试值，计算得到同批次辐射敏感元器件抗总剂量指标的对数平均值A_average和对数标准差σ；

步骤3，计算辐射敏感元器件总剂量辐射损伤失效概率P_invalid；

步骤4，计算辐射敏感元器件辐射幸存概率P_survive；

步骤5，确定辐射损伤后对卫星系统级任务有影响的辐射敏感元器件的数量，确定对系统级任务的影响后果；

步骤6，确定损伤故障影响传递概率P_transmit；

步骤7，确定辐射敏感元器件辐射损伤导致的系统故障累积时间；

步骤8，确定辐射敏感元器件i状态对系统级任务j的贡献度；

步骤9，确定辐射敏感元器件i总剂量损伤对系统任务j的评估因子；

步骤10，设置总剂量损伤的薄弱阈值PIT_limit，进行卫星电离总剂量辐射损伤的薄弱点鉴别；

步骤11，总剂量损伤对卫星系统任务j影响程度评估针对的是卫星系统级任务j，通过上述计算出的评估因子值，对其进行从高到低排序，得到典型器件因总剂量损伤对卫星系统任务影响程度的评估因子序列值，即为总剂量损伤对卫星系统任务的影响程度。

2.根据权利要求1所述的星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法，其特征在于，所述步骤3为计算辐射敏感元器件总剂量辐射损伤失效概率P_invalid，具体为：

辐射敏感元器件的辐射剂量受轨道、位置、是否屏蔽的影响，辐射敏感元器件的辐射损伤失效概率P_invalid和设计余量InR服从正太分布，即

其中，D_simulation为辐射敏感元器件在星上位置处的辐射仿真要求值；D_simulation的单位为Rad，A_average的单位为Rad。

3.根据权利要求1所述的星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法，其特征在于，所述步骤4为计算辐射敏感元器件辐射幸存概率P_survive，具体为：

上式中令Q＝A_average/D_simulation，则

其中，D_simulation为辐射敏感元器件在星上位置处的辐射仿真要求值；

根据不同测试标准差σ值拟合出P_survive-Q关系曲线，根据Q值、σ值计算得辐射敏感元器件辐射幸存概率P_survive。

4.根据权利要求1所述的星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法，其特征在于，所述步骤5为确定辐射损伤后对卫星系统级任务有影响的辐射敏感元器件数量，确定对系统级任务的影响后果，对系统级任务的影响后果为任务中断、低于正常功率工作或没有影响。