[发明专利]测试针组件及测试装置

说明书

本申请提供测试针组件及测试装置。其中，测试针组件包括针床及多个测试针，针床具有多个阵列排布的第一容纳孔；每个测试针具有针体以及形成在针体一端的针头；每个针体固定在一个第一容纳孔中，针头凸出于针床设置，且针头用于与板对板连接器的引脚连接；以垂直于针体延伸方向的截面为横截面，在针头的每个横截面中，针头沿长度方向的最大尺寸大于该针头沿宽度方向的最大尺寸，以使任意相邻两个针头之间具有间隔，使得测试针组件可以直接测试BTB连接器的引脚，无需在电路板上设置测试点，节省了PCB布局面积，简化了PCB结构，加工简单。可以在保证相邻两个测试针在宽度方向互不接触同时，增加针头沿长度方向的尺寸，避免针头弯曲或折断。

技术领域

本申请涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种测试针组件及测试装置。

背景技术

随着电子设备技术的发展，板对板(board to board，BTB)连接器在移动终端(如智能手机、平板电脑等)中的应用也越来越广泛。BTB连接器可以设置在印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)中，通过BTB连接器之间的配合可以实现多个PCB之间的连接。为了保证PCB与PCB之间的连接有效性，需要对PCB中的BTB连接器的部分引脚进行测试，以保证其可以有效地传递电信号。

目前，常用的测试方法是在PCB中设置连接BTB连接器引脚的测试点，通过检测测试点处的信号来判断BTB连接器是否可靠性。

但是，该测试方法需要在PCB上单独开辟一块区域来设置测试点，导致PCB加工复杂且浪费PCB的布局空间。

发明内容

本申请实施例提供一种测试针组件及测试装置，以解决PCB加工复杂且浪费布局空间的问题。

本申请实施例提供一种测试针组件，包括：

针床，所述针床具有多个阵列排布的第一容纳孔。

多个测试针，每个所述测试针具有针体以及形成在所述针体一端的针头；每个所述针体固定在一个所述第一容纳孔中，所述针头凸出于所述针床设置，且所述针头用于与板对板连接器的引脚连接。

以垂直于所述针体延伸方向的截面为横截面，在所述针头的每个横截面中，所述针头沿长度方向的最大尺寸大于该针头沿宽度方向的最大尺寸，以使任意相邻两个针头之间具有间隔。

如上所述的测试针组件，其中，所述针头包括与所述针体连接的第一等截面段，所述第一等截面段的横截面面积处处相等，且所述第一等截面段沿所述长度方向的两侧分别用于抵靠在板对板母端器件的引脚凹槽相对的两个侧壁上。

如上所述的测试针组件，其中，所述第一等截面段的横截面形状为第一椭圆形。

如上所述的测试针组件，其中，所述针头还包括第一变截面段。

所述第一变截面段形成在所述第一等截面段背离所述针体的一端，且所述第一变截面段靠近所述针体一端的横截面形状与所述第一等截面段的横截面形状相同。

所述第一变截面段的横截面面积从靠近所述针体的一端向远离所述针体的一端逐渐减小。

如上所述的测试针组件，其中，所述第一等截面段沿所述长度方向的两侧分别凸出于所述针体沿所述长度方向的两侧。

如上所述的测试针组件，其中，所述针体沿所述宽度方向的两侧分别凸出于所述第一等截面段沿所述宽度方向的两侧。

如上所述的测试针组件，其中，所述测试针组件还包括设置在所述针床上的电路板，所述电路板上具有与所述第一容纳孔连接的第二容纳孔。

所述针体背离所述针头的一端还形成有固定在所述第二容纳孔中的针尾；所述针尾与所述电路板电连接。