[发明专利]性能测试方法、装置及终端设备

说明书

本申请适用于测试技术领域，提供了性能测试方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质，包括：接收指定样机所发送的测试数据；确定所述测试数据对应的接收信号强度；根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。通过上述方法，能够提高射频性能测试效率。

技术领域

本申请属于测试技术领域，尤其涉及一种性能测试方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质。

背景技术

随着科学技术的不断发展，人们对于电子产品的品质要求越来越高，为了保证电子产品的品质，厂商会对电子产品的各项性能进行测试。

例如，对于利用了射频技术的样机，厂商会对其射频性能进行测试。目前，厂商通常对利用射频技术的样机进行吞吐量测试，从而判断样机的射频性能是否正常。然而，由于吞吐量测试具有爬坡特性，因此，吞吐量测试所需时间较长，对一台样机进行吞吐量测试所需时间大约是一分钟，测试效率较低。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供了一种性能测试方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质，以解决现有技术射频性能测试效率较低的问题。

本申请实施例的第一方面提供了一种性能测试方法，包括：

接收指定样机所发送的测试数据；

确定所述测试数据对应的接收信号强度；

根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。

本申请实施例的第二方面提供了一种性能测试装置，包括：

数据接收单元，用于接收指定样机所发送的测试数据；

强度确定单元，用于确定所述测试数据对应的接收信号强度；

测试结果生成单元，用于根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果。

本申请实施例的第三方面提供了一种终端设备，包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如所述性能测试方法的步骤。

本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如所述性能测试方法的步骤。

本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：通过接收指定样机所发送的测试数据，然后确定所述测试数据对应的接收信号强度，再根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果，由于确定所述测试数据对应的接收信号强度所需的时长较短，因此，在根据所述接收信号强度生成所述指定样机对应的射频性能测试结果时，能够大大缩小了射频性能测试所需时间，提高了射频性能测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的第一种性能测试方法的流程示意图；

图2是本申请实施例提供的第二种性能测试方法的流程示意图；

图3是本申请实施例提供的一种测试数据传输的示意图；

图4是本申请实施例提供的一种指定样机的示意图；

图5是本申请实施例提供的一种性能测试装置的结构示意图；

图6是本申请实施例提供的终端设备的示意图。

具体实施方式