[发明专利]芯片的测试方法、装置、存储介质及烧录器

说明书

本申请实施例公开了一种芯片的测试方法、装置、存储介质及烧录器，属于芯片测试领域。芯片的测试方法包括：检测到芯片上电时，读取预存储的多个执行表；其中，多个执行表各对应一个工作模式；基于目标工作模式在所述多个执行表中选择目标执行表；根据所述目标执行表启动状态机对所述芯片执行测试本申请可以减低测试代码的冗余度，同时能够实现多个工作模式之间的灵活切换，可以提高测试的灵活性。

技术领域

本申请涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片的测试方法、装置、存储介质及烧录器。

背景技术

烧录器(Programmer)用于将目标程序代码写入到芯片中，使芯片实现目标程序代码对应的功能，该芯片称为可编程ID，在芯片成功写入目标程序代码之后，需要校验芯片的功能是否正确。在相关技术中，不同型号的芯片可能设置有不同的测试步骤，即使相同型号的芯片也可能具有不同的测试步骤，对应不同的测试需求需要配置不同的测试代码来实现，测试灵活性差。

发明内容

本申请实施例提供了的芯片的测试方法、装置、存储介质及终端，可以解决相关技术中针对不同的测试需求配置不同的测试代码导致的测试代码冗余和灵活性差的问题。所述技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种芯片的测试方法，所述方法包括：

检测到芯片上电时，读取预存储的多个执行表，多个执行表各对应一个工作模式；

基于目标工作模式在多个执行表中选择目标执行表；

根据目标执行表启动状态机对芯片进行测试。

第二方面，本申请实施例提供了一种芯片的测试装置，所述芯片的测试装置包括：

读取单元，用于检测到芯片上电时，读取预存储的多个执行表；其中，多个执行表各对应一个工作模式；

选择单元，用于基于目标工作模式在所述多个执行表中选择目标执行表。

执行单元，用于根据所述目标执行表启动状态机对所述芯片执行测试。

第三方面，本申请实施例提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。

第四方面，本申请实施例提供一种烧录器，可包括：处理器和存储器；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的方法步骤。

本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：

检测到芯片上电时，读取预存储的多个执行表，多个执行表各自对应一个工作模式，根据当前的目标工作模式在多个执行表中选择目标执行表，根据目标执行表启动状态机对芯片进行测试，状态机整合有多个执行表，解决了相关技术中分配为不同的工作模式设置状态机代理的测试代码冗余和灵活性差的问题，本申请实施例通过状态机整合多个执行表来实现不同工作模式下测试代码的共用，减低了测试代码的冗余度，同时能够实现多个工作模式之间的灵活切换，可以提高测试的灵活性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的一种网络架构图；

图2是本申请实施例提供的芯片的测试方法的流程示意图；

图3是本申请实施例提供的芯片的测试方法的另一流程示意图；

图4是本申请实施例提供的一种装置的结构示意图；

图5是本申请提供的一种装置的另一结构示意图。