[发明专利]一种芯片高压和综合电性测试装置及测试方法在审
申请号: | 201910731539.7 | 申请日: | 2019-08-08 |
公开(公告)号: | CN110456239A | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | 余代春;刘军;王强 | 申请(专利权)人: | 绵阳宁瑞电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G01R31/01 |
代理公司: | 51217 成都睿道专利代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 薛波<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 622150四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分料机构 测试 测试机构 良品 分料 产品转运 转运机构 不良品 综合电性测试 传输 传输机构 待测产品 转运 芯片 | ||
1.一种芯片高压和综合电性测试装置,其特征在于:包括
进料分料机构,用于对进料进行初步分料;
第一转运机构,用于将待测产品从进料分料机构转运到第一测试机构,同时将完成第一次测试的产品转运到第一输送分料机构;
第一测试机构,用于进行第一次测试;
第一输送分料机构,用于将进行了第一次测试的产品进行良品不良品分料,并将良品传输到第二测试机构;
第二测试机构,用于进行第二次测试;
第二转运机构,用于将进行了第二次测试的产品转运到第二输送分料机构;
以及第二分料传输机构,用于将完成第二次测试的产品进行良品不良品分料,并将良品传输到下一工序。
2.根据权利要求1所述的芯片高压和综合电性测试装置,其特征在于:所述的进料分料机构包括进料滑槽、分料治具组件和分料推料组件,所述的分料治具组件和分料推料组件分别位于进料滑槽的两侧,所述的分料治具组件包括分料板,分料板的两端分别开设有用于放置产品的凹槽,分料板在气缸作用下沿进料滑槽方向往复移动;所述的分料推料组件包括用于将产品进料滑槽上的产品推入分料板的推杆,推杆在气缸的作用下垂直于进料滑槽往复运动。
3.根据权利要求1或2所述的芯片高压和综合电性测试装置,其特征在于:所述的第一转运机构包括用于在水平面上前后左右移动第一抓取组件的第一移动组件和一对并列安装在第一移动组件左右移动方向上,用于抓取产品的第一抓取组件;所述的第二转运机构包括用于在水平面上前后左右移动第二抓取组件的第二移动组件和安装在第二移动组件上,用于抓取产品的第二抓取组件。
4.根据权利要求3所述的芯片高压和综合电性测试装置,其特征在于:所述的第一抓取组件与第二抓取组件结构相同,均包括手指气缸安装板,所述的手指气缸安装板的底部固定安装有手指气缸,手指气缸安装板在气缸的作用下带动手机气缸在竖直方向上往复运动。
5.根据权利要求3所述的芯片高压和综合电性测试装置,其特征在于:所述的第一测试机构包括第一测试夹具、第一探针安装板、第一探针导向板和第一测试气缸,所述的第一探针安装板与第一探针导向板固定连接,所述的第一测试夹具用于夹紧待测试产品,所述第一测试气缸与第一探针安装板固定连接,带动第一探针安装板和第一探针导向板在竖直方向上往复运动,并向下压紧使得第一探针安装板上的探针与第一测试夹具上的产品电性接触;所述的第一测试夹具包括用于夹紧的第一推料板和用于定位的第一定夹具,所述的第一推料板在气缸作用下与第一定夹具共同夹紧产品。
6.根据权利要求3所述的芯片高压和综合电性测试装置,其特征在于:所述的第二测试机构包括第二测试夹具、第二探针安装板、第二探针导向板和第二测试气缸,所述的第二探针安装板与第二探针导向板固定连接,所述的第二测试夹具用于夹紧待测试产品,所述第二测试气缸与第二探针安装板固定连接,带动第二探针安装板和第二探针导向板在竖直方向上往复运动,并向下压紧使得第二探针安装板上的探针与第二测试夹具上的产品电性接触;所述的第二测试夹具包括用于将第一输送分料机构上的产品推入第二定夹具并夹紧的第二推料板和用于定位的第二定夹具,所述的第二推料板在气缸作用下与第二定夹具共同夹紧产品。
7.根据权利要求1或2或5货6所述的芯片高压和综合电性测试装置,其特征在于:所述的第一输送分料机构包括第一传送组件,第一转运机构将第一次测试后的产品转运放置在第一传送组件上,所述的第一传送组件的一侧设置有用于阻拦不良品的拦料板,拦料板在气缸的作用下沿垂直于第一传送组件方向上往复运动;第一传送组件的一侧设置有用于将传送组件上的不良品推到第一不良品槽上的第三推料板,第三推料板在气缸的作用下沿垂直于第一传送组件方向上往复运动。
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