[发明专利]硬盘复检周期确定方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本发明提供了一种硬盘复检周期确定方法、装置、设备及计算机可读存储介质，其中硬盘复检周期确定方法包括：获取硬盘的建议监测周期；统计建议监测周期内硬盘的损坏数量，根据损坏数量确定所述监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率；利用对比损坏率及对比损坏周期时间率对建议监测周期进行修正，得到复检周期。本发明的技术方案，利用建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率对建议监测周期进行修正，使得建议监测周期经过了使用条件的验证，得到的复检周期更加准确。

技术领域

本发明涉及存储技术领域，具体涉及一种硬盘复检周期确定方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

在存储领域，至今未有对硬盘进行监测的国家标准。现在市面上硬盘的寿命一般为3-5年，有的厂商会给用户提供一个建议监测周期，以供用户按照建议监测周期对硬盘质量进行检测，确保硬盘的质量。但是上述建议监测周期因未充分考虑各种用户的使用条件等外在因素的影响存在不准确的现象。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种硬盘复检周期确定方法、装置、设备及计算机可读存储介质，以解决现有技术中硬盘监测周期不准确的问题。

根据第一方面，本发明实施例提供了一种硬盘复检周期确定方法，包括以下步骤：

获取硬盘的建议监测周期；

统计所述建议监测周期内硬盘的损坏数量，根据所述损坏数量确定所述建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率；

利用所述对比损坏率及对比损坏周期时间率对所述建议监测周期进行修正，得到复检周期。

结合第一方面，在第一方面第一实施方式中，所述对比损坏率由下式得到：

结合第一方面，在第一方面第二实施方式中，所述对比损坏周期时间率由下式得到：

结合第一方面，在第一方面第三实施方式中，所述复检周期由下式得到：

复检周期＝建议监测周期×(对比损坏率+1)×对比损坏周期时间率(1+时间参数)；其中，时间参数＝建议监测周期内的周数/年周数。

本发明实施例提供的硬盘复检周期确定方法，获取硬盘的建议监测周期，统计建议监测周期内硬盘的损坏数量，根据损坏数量确定建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率；利用对比损坏率及对比损坏周期时间率对建议监测周期进行修正，得到复检周期，本发明的技术方案，利用建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率对建议监测周期进行修正，使得建议监测周期经过了使用条件的验证，得到的复检周期更加准确。

根据第二方面，本发明实施例提供了一种硬盘复检周期确定装置，包括：

获取模块，用于获取硬盘的建议监测周期；

计算模块，用于统计所述建议监测周期内硬盘的损坏数量，根据所述损坏数量确定所述建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率；

修正模块，用于利用所述对比损坏率及对比损坏周期时间率对所述建议监测周期进行修正，得到复检周期。

结合第二方面，在第二方面第一实施方式中，所述计算模块具体用于：

结合第二方面，在第二方面第二实施方式中，，所述计算模块具体用于：

结合第二方面，在第二方面第三实施方式中，，所述修改模块具体用于：

复检周期＝建议监测周期×(对比损坏率+1)×对比损坏周期时间率(1+时间参数)；其中，时间参数＝建议监测周期内的周数/年周数。