[发明专利]OLED显示器寿命评测方法

说明书

OLED显示器寿命评测方法，属于OLED显示器寿命评测技术领域，具体为一种OLED显示器寿命评测方法。本发明的方法首先采用SED模型计算出OLED显示器的实际使用亮度下的t_1/2值后再结合OLED显示器实际使用模式及外界温度推算其实际寿命。本发明的方法解决了现有的OLED显示器寿命的评估方法中存在的脱离实际使用过程较大的问题，考虑实际运用中影响寿命量大因素，使用模式以及外界温度的影响，提出了一套科学合理的寿命评估方法。

技术领域

本发明属于OLED显示器寿命评测技术领域，具体为一种OLED显示器寿命评测方法。

背景技术

OLED即为有机电致发光二极管，是近年来发展较快的一种新兴显示技术，是通过有机材料自发光来实现显示，该显示技术具有自主发光、低电压直流驱动、全固化、视角宽、重量轻、可制作大尺寸与可弯曲的面板、工艺简单等一系列特点，且具有低成本的潜力，能够满足当今信息科技时代对显示技术更高性能和更大信息容量的要求，成为目前科学界和产业界最热门的课题之一。

由于OLED显示是有机材料自发光的缘故，随着有机膜层的稳定性变化，以及外界水氧环境的变化，亮度随时间发生衰减。通常将亮度衰减到初始值一半的时间称之为半衰期t_1/2，用半衰期来表征OLED显示器的寿命。

通常OLED显示器的寿命评估方法都是采用加速老化的方法，如中国专利名称“一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法”，专利号201110158656.2公开的评估方法，即在高亮度下测试亮度随时间的衰减曲线，用亮度衰减SED理论模型，计算出各个样本在加速老化测试中对应的半衰期t_1/2，再推算出在使用亮度下的半衰期，作为OLED显示器的寿命值。该方法是基于OLED显示器高亮度持续点亮的寿命评测方法，虽然能作为OLED显示器寿命的评估，但与OLED显示器实际使用过程脱离较大，无法作为OLED显示器实际使用寿命的评估。

发明内容

本发明的目的是提出一种接近实际使用过程的OLED显示器寿命评测方法，以达到全面、接近实际使用过程的寿命评估，以满足指导OLED显示器商业应用的需求。

本发明的一种OLED显示器的寿命评测方法，采用SED模型进行寿命推算，其特征在于首先采用SED模型计算出OLED显示器的实际使用亮度下的t_1/2值后再结合OLED显示器实际使用模式及外界温度推算其实际寿命，具体计算公式如下：

LT_videotemp＝LT_video×温度因子；

LT_video＝使用模式因子×实际使用亮度下的t_1/2值；

使用模式因子＝总像素数量/发光像素数量；

温度因子数值为0～1；

LT_videotemp为使用模式和外界温度下的寿命，LT_video为使用模式下的寿命。

所述使用模式因子，因在不同的使用模式下的发光像素数量不一样而使其值也不一样，总像素中发光像素越多，使用模式因子越接近1，常见使用模式下的使用模式因子具体数值如下表1；

表1：