[发明专利]包括安全逻辑的装置和操作该装置的方法在审

专利信息
申请号: 201910725366.8 申请日: 2019-08-07
公开(公告)号: CN110825017A 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: 赵东植 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G05B19/05 分类号: G05B19/05
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 赵南;张帆
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 包括 安全 逻辑 装置 操作 方法
【说明书】:

提供了包括安全逻辑的装置和操作该装置的方法。所述装置包括提供主信号的第一功能模块、提供比较信号的第二功能模块和安全逻辑。所述安全逻辑包括具有比较器、反馈路径和第一多输入门的触发信号生成器,所述比较器响应于主信号和比较信号来提供比较结果,所述反馈路径响应于比较结果而产生第一触发信号并将反馈信号提供到比较器,所述第一多输入门响应于比较结果而产生第二触发信号。安全逻辑还包括响应于第一触发信号和第二触发信号来提供最终故障搜索信号的触发信号监控器。

相关申请的交叉引用

本申请要求分别于2018年8月7日和于2019年2月20日在韩国知识产权局提交的第10-2018-0092061号韩国专利申请和第10-2019-0020050号韩国专利申请的权益,所述韩国专利申请的共同主题以引用方式并入本文中。

技术领域

本发明构思涉及一种包括安全逻辑的装置。更具体地,本发明构思涉及一种包括被构造为在运行时间期间确定主信号是否与比较信号正确相关的安全逻辑的各种装置。

背景技术

在诸如汽车的电气装置、机械装置和机电装置的广泛背景下,潜在故障是特定类型的故障,该故障的发生在故障检测时段期间未被意图执行这样的检测的安全机制检测到。潜在故障也未被装置的用户检测到。因此,潜在故障可以被理解为无声故障(silentfault),其可以演变(或迁移)成多个故障,最终导致装置的严重性能故障。潜在故障的一个典型示例是存储器比特故障。

在潜在容错时间段(L-FTTI)期间应检查故障和可能的故障,以防止潜在故障的发生。例如,针对每次存储器存取来检查存储器比特故障。依赖于内置自测(BIST)逻辑和/或软件测试库(STL)的传统的故障检查方法通常暂停正常操作(例如,存储器存取操作)以便检查故障。这样的操作临时暂停可能超过L-FTTI,并且通常增加与故障检查相关的硬件和/或软件开销。

发明内容

本发明构思的实施例提供包括能够检测可能潜在的故障的安全逻辑的装置。

根据本发明构思的一方面,提供了一种装置,包括:被构造为提供主信号的第一功能模块;被构造为提供比较信号的第二功能模块;以及安全逻辑。安全逻辑包括:包括至少一个比较器、反馈路径和第一多输入门的触发信号生成器,所述至少一个比较器被构造为响应于主信号和比较信号来提供比较结果,所述反馈路径被构造为响应于比较结果来产生第一触发信号并将反馈信号提供到所述至少一个比较器,所述第一多输入门被构造为响应于比较结果来产生第二触发信号;以及触发信号监控器,其被构造为响应于第一触发信号和第二触发信号来提供最终故障搜索信号。

根据本发明构思的另一方面,提供了这一种包括安全逻辑的装置。安全逻辑包括:触发信号生成器,其被构造为响应于主信号和比较信号来提供第一触发信号和第二触发信号,其中,主信号和比较信号中的每个包括多个比特;以及触发信号监控器,其被构造为响应于对第一触发信号和第二触发信号的监控来提供最终故障搜索信号,其中,触发信号生成器包括:多个比较器,其被构造为将主信号与比较信号进行逐比特比较并产生比较结果;反馈路径,其被构造为响应于比较结果来执行第一门操作,产生第一触发信号,并响应于第一触发信号将反馈信号提供到多个比较器中的每一个;以及第一多输入门,其被构造为响应于比较结果来执行第二门操作并产生第二触发信号。

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