[发明专利]基于像物空间联合扫描的显微高光谱成像系统在审

专利信息
申请号: 201910714743.8 申请日: 2019-08-06
公开(公告)号: CN112345075A 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 唐义;常月娥;李平安;刘婉玉 申请(专利权)人: 苏州朗晖光电科技有限公司
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/04;G01J3/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 空间 联合 扫描 显微 光谱 成像 系统
【权利要求书】:

1.基于像物空间联合扫描的显微高光谱成像系统设计方法,其特征在于,成像光谱系统采用狭缝推扫体制。

2.基于像物空间联合扫描的显微高光谱成像系统设计方法,其特征在于,操作步骤如下:

步骤一,像空间扫描,对经显微镜放大后的成像目标进行扫描成像;

步骤二,物空间遍历,移动物方平移台到相邻下一个位置,然后重复像方扫描过程,完成目标感兴趣区域的所有位置像方扫描遍历;

步骤三,数据拼接,对获取的目标所有位置处的像方扫描高光谱成像数据进行拼接。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤一像空间扫描拥有3种推扫扫描体制。

扫描体制1:整机平移或旋转模式推扫扫描体制;

扫描体制2:扫镜扫描模式推扫扫描体制;

扫描体制3:狭缝移动模式推扫扫描体制。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,整机平移或旋转模式推扫扫描体制使用平移台/旋转台对成像光谱系统整机进行平移/旋转,成像光谱系统的镜头耦合对准显微镜的侧出光口,实现成像光谱系统对侧出光口输出的目标放大像的数据扫描采集。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,扫镜扫描模式推扫扫描体制在成像光谱系统和显微镜侧出光口之间添加扫镜作为光路耦合器件,通过扫镜的扫描实现成像光谱系统对显微镜侧出光口输出的目标放大像的数据扫描采集。

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,狭缝移动模式推扫扫描体制通过使用电机控制狭缝移动的方式,实现对显微镜侧出光口输出的目标放大像的数据扫描采集。

7.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤二物空间遍历中的物方移动包括前后、左右两个方向。

8.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤三数据拼接包括以下步骤:

步骤3.1,进行去噪、图像锐化等数据预处理;

步骤3.2,将数据进行截取处理,使所有待拼接的数据的规格、边缘状态一致;

步骤3.3,进行两两高光谱成像数据拼接;

步骤3.4,进行拼接位置平滑。

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