[发明专利]一种测量绝缘材料电离电流特性的三层试样结构及方法

权利要求书

1.一种用于测量绝缘材料电离电流特性的三层试样结构，其特征在于，包括：

第一阻挡材料，位于被测试样的上方，与被测材料紧密接触；

被测材料，即为被测量目标材料；

第二阻挡材料，位于被测试样的下方，与被测材料紧密接触；

阻挡材料的介电常数与被测材料相近，电导率远小于被测材料，注入阈值高于被测材料；

阻挡材料对电极注入、抽出电荷和被测材料中电离电荷的阻挡作用，被测材料中的载流子全部来源于被测材料电离产生的电荷；这些电离产生的电荷在被测材料中定向移动，产生电流，从而实现对被测材料中电离电流特性的提取。

2.根据权利要求1所述的三层试样结构，其特征在于，阻挡材料与被测材料的声阻抗，即材料中的声速乘以密度相近，厚度方面，阻挡材料厚度与阻挡材料声速的比例大于测试材料厚度与测试材料声速的比例。

3.一种采用如权利要求1所述的用于测量绝缘材料电离电流特性的三层 试样结构的电流测量方法，包括以下步骤：

1）将第一阻挡材料、被测材料、第二阻挡材料按照顺序组成三层试样结构；

2）将三层测试结构放在高压极与测量极之间，调整电极，使得试样与电极平稳紧密接触；

3）将三电极系统放于高温烘箱中，烘箱温度20℃—70℃可调，将高压直流电源、高阻计和接地线与三电极系统相连，高压直流电源-60kV—+60kV可调；

4）关闭烘箱门，设定高温烘箱温度，20℃—80℃，静置20—30分钟，使得试样温度稳定；

5）打开高压直流电源，调节电压，调节范围-60kV—+60kV，使用高阻计测量电流，理论测量范围为1fA—21mA，在计算机上对电流数据进行记录和处理。