[发明专利]测量两对称斜面交点至侧面距离的量规及方法

权利要求书

1.测量两对称斜面交点至侧面距离的量规，其特征在于：包括通端上卡板（1）、通端下卡板（2）、止端上卡板（3）、止端下卡板（4）、连接板（5）、通端校对量规（6）和止端校对量规（7）；

所述通端上卡板（1）的通端上卡板本体（1-1）开有向下拉通的第一梯形槽；所述第一梯形槽的右侧为第一向下延伸部份（1-2），左侧为第一向下延伸斜面部份（1-3）；

所述通端下卡板（2）的通端下卡板本体（2-1）开有向上拉通的第二梯形槽；所述第二梯形槽的右侧为第二向上延伸部份（2-2），左侧为第二向上延伸斜面部份（2-3）；

所述止端上卡板（3）的止端上卡板本体（3-1）开有向下拉通的第三梯形槽；所述第三梯形槽的右侧为第三向下延伸部份（3-2），左侧为第三向下延伸斜面部份（3-3）；

所述止端下卡板（4）的止端下卡板本体（4-1）开有向上拉通的第四梯形槽；所述第四梯形槽的右侧为第四向上延伸部份（4-2），左侧为第四向上延伸斜面部份（4-3）；

所述连接板（5）一侧固定连接通端上卡板（1）与通端下卡板（2），使第一梯形槽与第二梯形槽处于同一平面且拉通开口相对；所述连接板（5）另一侧固定连接止端上卡板（3）与止端下卡板（4），使第三梯形槽与第四梯形槽处于同一平面且拉通开口相对；

所述通端校对量规（6）可放置于第一梯形槽与第二梯形槽相对空间内，且与其形状相匹配来校正对应空间尺寸；所述止端校对量规（7）可放置于第三梯形槽与第四梯形槽相对空间内，且与其形状相匹配来校正对应空间尺寸。

2.如权利要求1所述的测量两对称斜面交点至侧面距离的量规，其特征在于：

所述第一向下延伸部分（1-2）设有第一测量面（E3），所述第一向下延伸斜面部分（1-3）设有第一测量斜面（C3）；

所述第二向上延伸部份（2-2）设有第二测量面（E4），所述第二向上延伸斜面部份（2-3）设有第二测量斜面（C4）；

所述第三向下延伸部份（3-2）设有第三测量面（E5），所述第三向下延伸斜面部份（1-3）设有第三测量斜面（C5）；

所述第四向上延伸部份（4-2）设有第四测量面（E6），所述第四向上延伸斜面部份（4-3）设有第四测量斜面（C6）。

3.如权利要求2所述的测量两对称斜面交点至侧面距离的量规，其特征在于：所述连接板（5）包括连接板本体（5-1）、第一垫板（5-2）、第二垫板（5-3）、第三垫板（5-4）和第四垫板（5-5）；第一垫板（5-2）、第二垫板（5-3）、第三垫板（5-4）和第四垫板（5-5）通过焊接的方式固定在本体（5-1）上；所述通端上卡板（1）固定在第一垫板（5-2）上；所述通端下卡板（2）固定在第二垫板（5-3）上；所述止端上卡板（3）固定在第三垫板（5-4）上；所述止端下卡板（4）固定在第四垫板（5-5）上。

4.如权利要求3所述的测量两对称斜面交点至侧面距离的量规，其特征在于：

所述通端校对量规（6）的通端本体（6-1）一侧为通端斜面（6-2），另一侧为通端测量面（E7）；所述通端斜面（6-2）设有相对通端本体（6-1）中心对称的第一斜面（C7）和第二斜面（C8）；所述通端测量面（E7）距离第一斜面（C7）和第二斜面（C8）的第一高度（L2）处，第一斜面（C7）和第二斜面（C8）之间距离为第一宽度（B1）；所述第一宽度（B1）等于被测零件（8）对应梯形斜面宽度（B） 时，所述第一高度（L2）小于被测零件（8）对应梯形斜面到基准面高度（L1）的最大值；

所述止端校对量规（7）的止端本体（7-1）一侧为止端斜面（7-2），另一侧为止端测量面（E8）；所述止端斜面（7-2）设有相对止端本体（7-1）中心对称的第三斜面（C9）和第四斜面（C10）；所述止端测量面（E8）距离第三斜面（C9）和第四斜面（C10）的第二高度（L3）处，第三斜面（C9）和第四斜面（C10）之间距离为第二宽度（B2）；所述第二宽度（B2）等于被测零件（8）对应梯形斜面宽度（B）时，所述第二高度（L3）与被测零件（8）对应梯形斜面到基准面高度（L1）的最小值相等。