[发明专利]一种基于多线程的模块化光波参数测试系统和方法在审
申请号: | 201910697787.4 | 申请日: | 2019-07-31 |
公开(公告)号: | CN110557194A | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 徐桂城;尹炳琪;张一琪;孙超;徐玉华;陈晓峰;鞠军委;张志辉;韩顺利;闫继送 | 申请(专利权)人: | 中电科仪器仪表有限公司 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079 |
代理公司: | 37252 青岛智地领创专利代理有限公司 | 代理人: | 林琪超 |
地址: | 266555 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 功能测试模块 控制测试 光波 光功率计模块 光谱分析模块 光开关模块 光衰减模块 测试平台 测试线程 光源模块 模块插槽 参数测试系统 多线程方式 插入模块 功能测试 自动生成 多线程 模块化 线程 测试 | ||
本发明公开了一种基于多线程的模块化光波参数测试系统和方法,包括光波测试平台和功能测试模块,功能测试模块分为光源模块、光功率计模块、光衰减模块、光开关模块、光回损模块和光谱分析模块,光波测试平台设置有多个模块插槽,每个模块插槽内能插入一个功能测试模块。通过为每个功能测试模块设计相应的测试线程,测试线程对相应的功能测试模块独立进行控制测试。采用多线程方式设计了一种满足全部功能测试要求的测试方法,能够自适用各个插入模块,自动生成对应线程模式,独立完成对该功能模块的控制测试,达到同时对光源模块、光功率计模块、光衰减模块、光开关模块、光回损模块、光谱分析模块的控制测试效果。
技术领域
本发明涉及光波参数测试领域,具体涉及一种基于多线程的模块化光波参数测试系统和方法。
背景技术
光波测试系统由光波测试平台和各功能测试模块组成,功能测试模块主要包括光源模块、光功率计模块、光衰减模块、光开关模块、光回损模块和光谱分析模块,各测试模块在测试平台的统一控制下实现各项功能,具有插槽式、可重构、多通道、独立重复测试、并行测试等特点。光波测试系统所有功能模块需在统一的测试平台下完成测试,这要求系统具有可重构、多并发、任意组合、高性能的测试方法。由于测试模块种类多,各模块对测试数据量、测试速度、测试参数等要求不同,导致测试平台对模块的兼容性、可重构性及测试效率偏低。
现有技术的缺点:
光波参数测试只能同时实现单一功能测试,或者只能实现少数功能的同时测试,例如将光源、功率计、衰减器组合模式;现有方案插槽数少,无法进行任意插拔,不可重构。
发明内容
针对现有的光波测试系统存在的功能测试单一等问题,本发明的第一目的是提供了一种基于多线程的模块化光波参数测试系统。
本发明采用以下的技术方案:
一种基于多线程的模块化光波参数测试系统,包括光波测试平台和功能测试模块,功能测试模块分为光源模块、光功率计模块、光衰减模块、光开关模块、光回损模块和光谱分析模块,光波测试平台设置有多个模块插槽,每个模块插槽内能插入一个功能测试模块。
优选地,模块插槽有18个。
本发明的第二目的是提供了一种基于多线程的模块化光波参数测试系统的测试方法。
一种基于多线程的模块化光波参数测试系统的测试方法,为每个功能测试模块设计相应的测试线程,测试线程对相应的功能测试模块独立进行控制测试。
优选地,具体包括以下步骤:
步骤1:设计功能模块测试线程,功能模块测试线程包括光源测试线程、光功率计测试线程、光衰减测试线程、光开关测试线程、光回损测试线程和光谱测试线程;
光源测试线程管理光源模块,光功率计测试线程管理光功率计模块,光衰减测试线程管理光衰减模块,光开关测试线程管理光开关模块,光回损测试线程管理光回损模块,光谱测试线程管理光谱分析模块;
步骤2:主控制程序启动后,对所有的模块插槽进行扫描和读取,识别模块插槽内的模块类型;
步骤3:复制调用功能模块测试线程对相应的模块插槽内的功能测试模块进行管理;
步骤4:功能模块测试线程独立运行,对相应的功能测试模块进行控制测试;
步骤5:测试结束。
优选地,步骤2具体为:主控制程序从第一个模块插槽开始扫描,确定该模块插槽是否有功能测试模块插入,若没有,继续扫描下一个模块插槽;若有功能测试模块插入,读取该功能测试模块的信息,识别该功能测试模块的类型,继续进行下一个模块插槽的扫描,直至所有模块插槽扫描结束。
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