[发明专利]分割电容镜像搜索的模数转换器校准方法有效

专利信息
申请号: 201910690481.6 申请日: 2019-07-29
公开(公告)号: CN110299918B 公开(公告)日: 2021-11-23
发明(设计)人: 叶茂;赵逸飞;赵毅强 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 刘国威
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 分割 电容 搜索 转换器 校准 方法
【权利要求书】:

1.一种分割电容镜像搜索的ADC校准方法,其特征是,步骤如下:

(1)进行第n位搜索,n取值从ADC MSB到LSB,其中MSB为ADC最高位;LSB为ADC最低位,因为第n位不存在Wi,Wi为第i位误差,i为单位电容的位置,所以对第n位进行遍历搜索通过误差检测方法获得第n位每个单位电容的Wi,然后对Wi进行排序得到Ws,Ws由Wi进行排列组成;

(2)按此方法搜索所有需要搜索的点,并建立Ws与原电容位置i的索引Ic,以便于通过排序后的误差值直接索引至原电容组合;

(3)在Ws0的半侧选取Win,并通过在2n-1点镜像对称的方式在Ws0侧选取Wip,通过这种镜像选择的方式对电容进行搜索保证两个电容的和达到一个较为精确的值;

(4)此时已经选取好了两个Wi,通过上面步骤建立的索引Ic将两个Wi索引至原始的2个电容组合,并将这2个电容组合相加得到一个新的电容组合;

(5)通过误差检测方法检测新的电容组合误差,将这些所有的误差以数组形式存储;

(6)待所有Ws0侧范围的Wi选定完成时,将第5步存储的误差进行排序,选取与0点最近的两点作为新的误差值Ws;

(7)此时Ws的数量相对于第n位搜索时Ws的数量没有改变,然后再返回第(1)步进行下一位n-1位的搜索,直至所有位搜索完成。

2.如权利要求1所述的分割电容镜像搜索的ADC校准方法,其特征是,将步骤(1)-(7)逐次逼近转换过程应用于SAR ADC,则该SAR ADC的工作过程如下:

a)按照权利要求1提出的分割电容镜像搜索算法搜索最优的电容匹配并得到所述电容的地址存在寄存器之中;

b)进行逐次逼近转换过程;

c)对输入电压Vin进行采样,使电容阵列公共端电压为Vin;

d)读取寄存器第N位的电容开关地址,并通过此地址控制相应的电容接GND或Vref;

e)在电容阵列公共端产生精确的电压变化,并通过比较器与Vref进行比较;

f)输出第N位的数字码;

g)重复b)-g)的过程进行第N-1位的转换,直至转换结束进行下一个电压的采样。

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