[发明专利]土壤墒情测量方法及装置

说明书

本公开涉及一种土壤墒情测量方法，包括：获取测量土壤的降雨参数；其中，降雨参数包括测量周期内每个测量时间段的累计降雨量；确定测量土壤的水分损失与补给参数；其中，水分损失与补给参数包括损失系数和补给系数；以及根据水分损失与补给参数和降雨参数，采用预设的测量公式，确定测量土壤的土壤水分含量；测量公式中包括测量土壤中任一土壤层的厚度。本公开的方法至少具有以下有益技术效果之一：通过获取土壤的损失系数、补给系数以及测量周期内每个测量时间段的累计降雨量，采用预设的测量公式能够确定任一土壤层的土壤水分含量，能够实现对连续深度土壤层的土壤墒情进行测量的目的。

技术领域

本公开涉及土壤监测领域，具体地，涉及一种土壤墒情测量方法、装置、存储介质和电子设备。

背景技术

当前在测量土壤墒情时，通常将传感器布置在土壤不同厚度处，仅能测量土壤离散深度处的土壤墒情，然而，对于农业、林业和气象等业务需求，对于测量深度的要求往往不尽相同，往往需要测量连续深度处的土壤墒情。

发明内容

在下文中将给出关于本公开的简要概述，以便提供关于本公开的某些方面的基本理解。应当理解，此概述并不是关于本公开的穷举性概述。它并不是意图确定本公开的关键或重要部分，也不是意图限定本公开的范围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念，以此作为稍后论述的更详细描述的前序。

根据本公开的第一方面，提供了一种土壤墒情测量方法，包括：

获取测量土壤的降雨参数；其中，降雨参数包括测量周期内每个测量时间段的累计降雨量；

确定测量土壤的水分损失与补给参数；其中，水分损失与补给参数包括损失系数和补给系数；以及

根据水分损失与补给参数和降雨参数，采用预设的测量公式，确定测量土壤的土壤水分含量；测量公式中包括测量土壤中任一土壤层的厚度。

在一个实施例中，确定测量土壤的水分损失与补给参数，包括：

获取测量土壤的典型层的土壤水分含量；

根据典型层的土壤水分含量和降雨参数，对测量公式进行参数率定，确定水分损失与补给参数。

在一个实施例中，典型层为厚度为3cm、5cm、10cm、20cm或50cm的土壤层。

在一个实施例中，测量公式为：

其中，θ为第n个测量时间点的土壤水分含量，θ₀为初始含水量，η为损失系数，Z为土壤层的厚度，t₀为初始测量时间点，t_n为第n个测量时间点，γ为补给系数，n为测量周期内测量时间点的总数，P_i为第i个测量时间段的累计降雨量，t_i为第i个测量时间点，t_i-1为第i-1个测量时间点。

根据本公开的第二方面，提供了一种土壤墒情测量装置，包括：

获取模块，被配置用于获取测量土壤的降雨参数；其中，降雨参数包括测量周期内每个测量时间段的累计降雨量；

第一确定模块，被配置用于确定测量土壤的水分损失与补给参数；其中，水分损失与补给参数包括损失系数和补给系数；以及

第二确定模块，被配置用于根据水分损失与补给参数和降雨参数，采用预设的测量公式，确定测量土壤的土壤水分含量；测量公式中包括测量土壤中任一土壤层的厚度。

根据本公开的第三方面，提供一种电子设备，包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序，