[发明专利]一种可用于痕量检测的表面增强拉曼散射芯片的制备方法及所得产品和应用

权利要求书

1.一种可用于痕量检测的表面增强拉曼散射芯片的制备方法，其特征是包括以下步骤：

（1）在搅拌下将贵金属前驱体溶液缓慢倒入含氨基的有机物溶液中，并继续搅拌直至得到前驱体胶体溶液，所述含氨基的有机物作为配体与贵金属前驱体进行配位，形成高度分散、均一的前驱体胶体溶液；

（2）以带有凹槽的基片为基底，将上述前驱体胶体溶液加入凹槽中，通过原位老化处理和热处理，使贵金属前驱体在凹槽的底部原位反应形成一层贵金属薄膜，热处理后即得可用于痕量检测的表面增强拉曼散射芯片；

贵金属前驱体与含氨基的有机物的摩尔比为1:3~4；贵金属前驱体溶液的浓度为20~40mmol/L，含氨基的有机物溶液的浓度为20~30 mmol/L；

前驱体胶体溶液加入凹槽中的量保证在凹槽底部形成的贵金属薄膜的厚度为1~10 μm。

2.根据权利要求1所述的制备方法，其特征是：所述贵金属为金或银，所述贵金属的前驱体为贵金属的无机盐或无机酸；所述含氨基的有机物为碳酰胺、三聚氰胺或硫脲。

3.根据权利要求1所述的制备方法，其特征是：在搅拌下将贵金属前驱体溶液缓慢倒入含氨基的有机物溶液中，并继续搅拌直至得到胶体溶液。

4.根据权利要求1所述的制备方法，其特征是：原位老化在室温静置下进行，直至溶剂挥发完毕；热处理温度为400~500℃，热处理时间为60~180 min。

5.根据权利要求1或4所述的制备方法，其特征是：以2~10℃/min的升温速率升至热处理温度；热处理在空气、氮气或氩气下进行。

6.根据权利要求1所述的制备方法，其特征是：所述基片上带有至少一个的凹槽。

7.根据权利要求6所述的制备方法，其特征是：所述凹槽在基片上呈阵列状排列。

8.根据权利要求1所述的制备方法，其特征是：所述基片由耐高温且无特征拉曼信号的材质制成。

9.根据权利要求8所述的制备方法，其特征是：所述基片材质为玻璃。

10.按照权利要求1-9中任一项所述的可用于痕量检测的表面增强拉曼散射芯片的制备方法制得的可用于痕量检测的表面增强拉曼散射芯片。

11.权利要求10所述的可用于痕量检测的表面增强拉曼散射芯片在检测有拉曼信号的物质方面的应用。