[发明专利]一种便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统

说明书

本发明涉及一种便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，包括检测装置，所述检测装置包括底座、镜架、镜筒和平台，还包括调节机构和固定机构，所述调节机构包括安装轴承、旋钮、传动轴和定位组件，所述固定机构包括固定板、柱形凹口、第二管道、第一管道、阀门、动力组件、升降块、两个滑杆、两个支架和两个吸盘，所述定位组件包括连接套管、连接杆、弹簧和摩擦块，所述动力组件包括丝杆和转盘，该便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统中，通过调节机构可以驱动平台翻转，使芯片在重力的作用下从平台上脱落，提高了显微镜使用的便捷度，通过固定机构可以将显微镜固定在桌面上，降低了显微镜发生晃动的几率，提高了显微镜的实用性。

技术领域

本发明涉及芯片检测设备领域，特别涉及一种便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统。

背景技术

显微镜是由一个透镜或几个透镜的组合构成的一种光学仪器，是人类进入原子时代的标志，主要用于放大微小物体成为人的肉眼所能看到的仪器。显微镜分光学显微镜和电子显微镜，光学显微镜是在1590年由荷兰的詹森父子所首创，现在的光学显微镜可把物体放大1600倍，分辨的最小极限达波长的1/2，国内显微镜机械筒长度一般是160毫米，显微镜作为芯片检测设备的一种，在芯片外观检测上起到了重要的作用。

现有技术的显微镜在检测芯片的时候，由于芯片的厚度和体积都很小，导致操作人员难以将芯片从载物台上取下，降低了显微镜的实用性，不仅如此，现有技术的显微镜放置在桌面上的时候，由于没有有效的加固措施，致使显微镜容易发生晃动，影响操作人员的正常使用。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：为了克服现有技术的不足，提供一种便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种便于芯片拾取的稳定型芯片检测系统，包括检测装置，所述检测装置包括底座、镜架、镜筒和平台，所述底座的形状为圆柱形，所述镜筒通过镜架与底座连接，所述平台与底座的轴线垂直，所述平台设置在底座与镜筒之间，还包括调节机构和固定机构，所述平台通过调节机构与镜架连接，所述固定机构设置底座上；

所述调节机构包括安装轴承、旋钮、传动轴和定位组件，所述传动轴的轴线与底座的轴线垂直且相交，所述传动轴的中部通过安装轴承与镜架连接，所述传动轴的一端与平台固定连接，所述旋钮与传动轴的另一端固定连接，所定位组件设置在镜架上，所述定位组件与传动轴连接；

所述固定机构包括固定板、柱形凹口、第二管道、第一管道、阀门、动力组件、升降块、两个滑杆、两个支架和两个吸盘，所述柱形凹口与底座同轴设置，所述柱形凹口设置在底座的远离镜架的一侧，所述滑杆与底座的轴线平行，两个滑杆的一端均与柱形凹口的靠近支架的一侧的内壁固定连接，两个滑杆的另一端均与固定板固定连接，所述动力组件设置在两个滑杆之间，所述升降块的内部设有连接孔，两个滑杆均穿过升降块，所述升降块与滑杆滑动连接，所述动力组件与升降块连接，两个吸盘分别设置在固定板的两侧，两个吸盘均通过支架与升降块固定连接，所述第二管道的两端分别与两个吸盘连接，所述第一管道的一端与第二管道的中部连通，所述底座的靠近平台的一侧设有贯穿孔，所述第一管道穿过贯穿孔，所述第一管道与贯穿孔密封连接，所述阀门安装在第一管道的另一端上；

作为优选，为了实现对传动轴的加固功能，所述定位组件包括连接套管、连接杆、弹簧和摩擦块，所述连接套管的轴线与传动轴的轴线垂直且相交，所述连接套管与镜架固定连接，所述连接轴与连接套管同轴设置，所述连接轴穿过连接套管，所述连接轴与连接套管滑动连接，所述摩擦块与连接轴的靠近传动轴的一端固定连接，所述摩擦块与传动轴抵靠，所述弹簧套设在连接杆上，所述连接杆的远离传动轴的一端通过弹簧与连接套管固定连接，所述弹簧处于拉伸状态。

作为优选，为了给升降块提供动力，所述动力组件包括丝杆和转盘，所述丝杆与底座同轴设置，所述丝杆的两端均设有安装轴承，所述丝杆的两端均通过安装轴承分别与固定板和柱形凹口的内壁连接，所述底座的靠近平台的一侧的中心处设有孔洞，所述丝杆穿过孔洞，所述转盘安装在丝杆的靠近平台的一端上。