[发明专利]一种全光纤声光调制移频器及采用该移频器的全光纤外差测量系统

权利要求书

1.一种全光纤声光调制移频器，包括布拉格光栅光纤、铝锥和压电陶瓷，所述压电陶瓷粘接固定在铝锥锥底平面上，其特征在于：所述铝锥的锥顶平面与锥底平面具有1.11°-1.15°的角度范围，所述铝锥的锥顶平面垂直粘接在布拉格光栅光纤的端面上。

2.一种全光纤外差测量系统，包括激光器、耦合器、环形器、全光纤声光调制移频器、光纤准直器、波形发生器、光纤衰减器、光纤延迟线、偏振控制器、光电探测器、示波器，其特征在于：所述全光纤声光调制移频器为权利要求1所述的全光纤声光调制移频器；

所述激光器发出的光从第一耦合器的第一端口输入后分成参考光和探测光，其中第一耦合器的第二端口的出射光为所述探测光，第一耦合器的第三端口的出射光为所述参考光；

所述探测光经过所述偏振控制器后，从第一环形器的第一端口入射到所述全光纤声光调制移频器，所述波形发生器对所述全光纤声光调制移频器施加频率为f Hz的驱动信号；经全光纤声光调制移频器反射后的探测光从第一环形器的第三端口出射后由第二环形器的第一端口入射，并从第二环形器的第二端口出射；从第二环形器的第二端口出射的探测光经所述光纤准直器准直出射后照向待测物，被待测物反射的探测光被所述光纤准直器重新收集，重新收集的探测光从第二环形器的第三端口出射，然后从第二耦合器的第二端口入射；

所述参考光通过光纤衰减器、光纤延迟线后从第二耦合器的第一端口入射，与从第二耦合器的第二端口入射的探测光发生干涉，干涉光从第二耦合器的第三端口出射，所述干涉光信号被所述光电探测器探测后得到干涉电信号，所述干涉电信号被示波器显示。

3.根据权利要求2所述一种全光纤外差测量系统，其特征在于：所述激光器为光纤激光器。